高纯Tb4O7中稀土杂质的ICP—MS法测定

本文报导了高纯氧化铽中Ｌａ、Ｃｅ、Ｐｒ、Ｎｄ、Ｓｍ、Ｅｕ、Ｇｄ、Ｄｙ、Ｈｏ、Ｅｒ、Ｔｍ、Ｙｂ、Ｙ等１３种稀土杂质的电感耦合等离子体质谱测定方法。选择了仪器最佳操作参数，考察了质谱干扰和基体效应，选用Ｉ作内标可基本克服基体效应。方法检出限为０．０１３－０１１ｎｇ／ｍＬ，加标回收率为８７％－１０３％，重复精度（ｎ＝７）为２．２％－５．５％。方法快速、灵敏、准确。     

等离子体质谱(ICP-MS)测定高纯氧化镱中痕量稀土和非稀土杂质研究

本文报道ＩＣＰ－ＭＳ直接测定高纯（５Ｎ～６Ｎ）氧化镱中稀土和非稀土杂质的新方法．对ＩＣＰ－ＭＳ测定中的光谱干扰和基体效应进行了详细考察，结果表明：用镓作内标，可有效地补偿因氧化镱引起的基体效应．方法的检出限在０．０Ｘ－０．Ｘｎｇ／ｍＬ范围；相对标准偏差（ＲＳＤ）（ｎ＝７）＜１０％．已应用于高纯氧化镱的工艺流程及其产品分析．     

微量待测元素的富集(综述)

一、前言当分析方法的相对检出限高于样品中微量待测杂质的浓度(或含量)时,可以采用预富集法。富集能够确保除去基体或者大部分基体,有时还可除去一系列微量干扰组分。得到的富集物中微量杂质的浓度,通常均比原来样品中相应微量杂质的浓度高。此外,采用富集步骤时,称样量可以增大,待测元素的绝对量增加,因此,可降低(改善)微量待测元素的检出限,而且可能改善几百倍、甚至几千倍,有时改善相当可观。这正是广泛采用预富集法的主要原因,但不     

电感耦合等离子体质谱法测定高纯镓中痕量杂质

采用电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）测定高纯镓中痕量杂质元素,以Rh作为内标补偿校正镓基体的抑制效应,采用异丙醚萃取分离镓与ICP-MS技术联用,拓展分析方法应用范围,可满足99.9999%-99.99999%超高纯镓分析方法要求。方法检出限为0.006-0.062μg/L;加标回收率为86.8%-121.4%之间;RSD为1.1%-8.6%。     

电感耦合等离子体质谱法测定高纯氧化钇

报道了高纯氧化钇中３０种痕量稀土和非稀土杂质元素的电感耦合等离子体质谱测定方法。考察了谱干扰及基体效应，采用Ｇａ内标能较好地补偿基体钇的影响。方法检出限为０．０１３￣４．１μｇ／Ｌ。方法简便，快速，灵敏。     

痕量分析新技术—等离子体质谱

感应耦合等离子体质谱(ICP/MS)是八十年代迅速发展起来的一门新技术,采用常规的感应耦合等离子体与高分辨、灵敏的四极质谱探测器联用。仪器的进展和初步应用表明:ICP/MS在痕量分析方面有着引人注目的分析潜力。自1980年由Houk,Fassel和Gray等合作发表的关于ICP/MS第一篇文章以来,Gray和Date以及Houk等分别进行了大量工作。1983年以后有了较大的进展,首先,该联合分析仪关键性的ICP/MS接口装置取得了突破性的进展,同时英国VG公司和加拿大SCIEX公司。相继宣告ICP/MS仪器商品     

磷酸氢二铵对石墨炉原子吸收测定砷化镓中痕量铅镉银的基体改进效应

本文提出用石墨炉原子吸收光谱测定砷化镓中痕量镉银和铅.大量的砷和镓可以卤化物形式挥发除去。采用磷酸氢二铵作基体改进剂.研究表明,磷酸氢二铵可使镉银铅的灰化温度分别提高到750℃,900℃,950℃;而且有效地降低镓和溴离子的影响.回收良好。已应用于实样分析。     

全国第二次高纯金属和半导体材料分析会议在九江召开

1983年6月3日至8日,由沈阳冶炼厂半导体材料研究所筹办,在九江市召开了全国第二次高纯金属和半导体材料分析会议。全国有色金属分析情报网成员单位及中国科学院、高等院校、电子工业部等系统的有关单位     

高纯Tb_4O_7中稀土杂质的ICP－MS法测定

本文报导了高纯氧化铽中Ｌａ、Ｃｅ、Ｐｒ、Ｎｄ、Ｓｍ、Ｅｕ、Ｇｄ、Ｄｙ、Ｈｏ、Ｅｒ、Ｔｍ、Ｙｂ、Ｙ等１３种稀土杂质的电感耦合等离子体质谱测定方法。选择了仪器最佳操作参数，考察了质谱干扰和基体效应，选用Ⅰ作内标可基本克服基体效应，方法检出限为０．０１３－０．１１ｎｇ／ｍＬ，加标回收率为８７％－１０３％，重复精度（ｎ＝７）为２．２％－５．５％。方法快速、灵敏、准确。     

等离子体质谱（ICP—MS）测定高纯氧化镱中痕量稀土和非稀土杂质研究

本文报道ＩＣＰ－ＭＳ直接测定高纯（５Ｎ～６Ｎ）氧化镱中稀土和非稀土杂质的新方法，对ＩＣＰ－ＭＳ测定中的光谱干扰和基体效应进行了详细考察，结果表明，用镓作内标，可有效地补偿因氧化镱引起的基体效应，方法的检出限在０．０Ｘ－０．Ｘｎｇ／ｍＬ范围，相对标准偏差（ＲＳＤ）（ｎ＝７）〈１０％，已应用于高纯氧化镱的工艺流程及其产品分析。