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用溶胶-凝胶法分别在LNO/Si(100)和ITO/glass衬底上成功制备了Bi2VO5.5(BVO)薄膜。通过X射线衍射(XRD)和原子力显微镜(AFM)研究了薄膜的结构和表面形貌。结果表明,两种衬底上生长的BVO薄膜均具有(001)择优取回的单一相结构,晶粒大小均匀,结晶度良好。BVO薄膜介电特性的分析表明,1kHz～1MHz频率范围内,BVO薄膜在ITO衬底上表现出更稳定的介电特性,这主要归因于薄膜择优取向程度、晶粒大小和晶界特点的影响。两种衬底上BVO薄膜中的驰豫过程属于多分散系统的德拜驰豫。BVO薄膜的拉曼光谱研究表明薄膜结构几乎不受衬底影响。 相似文献
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