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出版年
  1992年   1篇
  1983年   1篇
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1.
张矾  方明渭 《光谱实验室》1992,9(6):34-35,33
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为配合选矿流程样品的分析,将固体样品转变为溶液,以X荧光光谱法分析样品溶液,一方面可以解决标准来源的困难;另一方面可克服固体样品颗粒粒度、不均匀性和形态等因素的影响,降低共存元素间的相互干扰,使元素间影响的校正简单化,这对于未配备计算机的X荧光光谱仪来说,有一定意义。与化学分析法相比,以溶液法进行铜钼矿  相似文献   
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