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高纯材料是现代高新技术发展的基础,在电子、光学和光电子等尖端科学领域发挥着重要作用。采用固体样品直接分析的辉光放电质谱法(GDMS),在高纯金属、高纯半导体材料的痕量和超痕量杂质分析中有着非常广泛的应用。综述了GDMS法对高纯金属、高纯半导体材料进行的元素分析,并对分析过程中工作参数、溅射时间、干扰峰等因素的影响进行了阐述。同时,也详述了应用GDMS法对高纯金属钛、镉,高纯半导体硅,分别进行的痕量杂质元素分析,结果显示放电稳定性良好,典型元素含量的相对标准偏差均在较为理想范围内。GDMS应用前景广泛,未来,GDMS将在除固体样品之外的其他样品类型的分析领域中发挥重要作用。  相似文献   
2.
本研究构建了以城市污泥基氧化石墨烯(GO)为模拟酶的比色传感器用于定量检测H2O2。以城市污泥为基质利用改进Hummers法制备氧化石墨烯(GO),利用GO具有过氧化物模拟酶的特性,能够催化H2O2与3,3′,5,5′-四甲基联苯胺(TMB)的显色反应定量检测H2O2。结果显示,在最佳检测条件HAc-NaAc缓冲溶液pH 4.8、TMB溶液浓度30 mmol·L-1和城市污泥基GO浓度460μg·mL-1时,H2O2浓度在0.1~2μmol·L-1和10~150μmol·L-1范围内,与体系吸光度呈良好的线性关系,最低检测限为0.01μmol·L-1。此方法对实际水样中H2O2含量进行检测,回收率在99%~103.77%之间。研究表明,城市污泥基GO具有与传统G...  相似文献   
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