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研究了悬浮液雾化进样感耦等离子体原子发射光谱基本参数——等离子体激发温度。实验用“线为温标线,并采用多谱线法测量溶液雾化进样和0.05%二氧化钛悬浮液雾化进样等离子体激发温度。测定结果显示这两种雾化进样方式的等离子体激发温度接近,为5000-6000K。随感耦等离子体原子发射光谱仪器功率的提高,悬浮液雾化进样等离子体激发温度也相应增大,但增大幅度较小。悬浮液雾化进样等离子体发射光谱分析,若单纯改变仪器功率对于颗粒在等离子体中的原子化效率没有显著的变化,因此对于分析结果没有显著的改善作用。 相似文献
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邱德仁 《光谱学与光谱分析》1987,(1)
原子吸收光谱分析的发展历史表明,虽然原子吸收的物理现象很早从太阳光谱中的暗线就已认识到,但是由于分光光度计单色器的带通宽度(埃数量级)远比吸收线的物理宽度(0.01埃数量级)为大,原子吸收的实验测量难以实现,使得这项技术迟迟未能成为有用的分析方法。Walsh在1955年提出锐 相似文献
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ICP-原子发射光谱分析:光谱分辨率和分析特性(续) 总被引:1,自引:1,他引:0
5.4 测定限5.4.1 光滑背景的情况一个测得的净分析信号,它的相对标准偏差(RSD)_M,可由下式表示[6,57]: (RSD)_M~2=(RSD_A~2+(2/(RBR)~2]×(RSD)_B~2 (16) 式中(RSD)_A是谱线的净发射信号的相对标准偏差,可写为: 相似文献
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微波消解电感耦合等离子体光谱法测定碳化硼中痕量杂质元素 总被引:1,自引:0,他引:1
1引言碳化硼(B4C)陶瓷由于具有极高的硬度、优异的耐磨性能、优良的高温稳定性和化学稳定性以及轻质等优良特性而受到人们的极大关注,已在某些领域内得到了广泛应用。研究表明碳化硼中微量乃至痕量杂质元素都会影响其性能。电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)分析通常要求将样品处理成溶液雾化进样分析。在常压常温下,即使使用氢氟酸、碳化硼也难于分解。熔融样品则会引入大量的熔剂,需要稀释制样,影响样品痕量元素检测,且要使样品完全分解和分析也比较困难。本实验使用微波高压消解系统消解碳化硼样品,并用ICP-AES测定了碳化硼… 相似文献
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本文提出了用ICP-AES法测定马口铁中的痕量铅。试样用NaOH-H2O2溶解镀层。测得四种样品的含铅量在0.14~0.38μg/cm2范围内。方法的回收率为96.1%~103.2%。方法的精密度(RSD)为2.6%~3.8%。本法简便迅速,测量结果的准确度、精密度满足分析要求。 相似文献
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氢化—ICP光谱法测定罐头食品中痕量锡 总被引:3,自引:0,他引:3
本文将锡的氢化反应机理研究的结论应用于分析罐头食品中痕量锡。试样消解后,用纯化过的NaOH或KOH中和,然后酸化至0.10~0.12mol/L盐酸酸度,使之与KBH_4(0.25mol/L)中的KOH浓度(0.10mol/L)相匹配。实验参数与文献所报道的相似。 相似文献
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讨论了高分辨率光谱实验的光谱仪参数。在带宽3pm条件下摄取了稀土元素La,Ce,Pr,Nd,Sm的高分辨率ICP光谱,鉴别了240~450mm波长范围内的谱线,估测了强度,观察到一些谱线的复杂物理物理轮郭。 相似文献