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采用操作简单的溶胶-凝胶法和射频磁控溅射法在石英衬底上分别制备了MgxZn1-xO薄膜和MgxZn1-xO/Au/MgxZn1-xO夹层结构的透明导电薄膜并对样品进行退火处理。利用紫外-可见分光光度计、X射线衍射仪、光致发光、霍尔效应测试对在不同退火温度下薄膜的晶体结构、光学和电学性质进行表征分析,并研究退火温度对其影响。测试结果表明:所制备的薄膜样品均具有良好的c轴(c-axis)取向并呈现出六角纤锌矿结构。Mg组分的增加使得ZnO基薄膜的光学带隙逐渐增大,PL发光谱和吸收光谱的谱线出现了明显的蓝移现象,但薄膜的电学特性有所降低。而在MgxZn1-xO/Au/MgxZn1-xO夹层结构的薄膜样品中,Au夹层的存在使薄膜的光学性质变差,在紫外区域透光率约为60%。但薄膜的电学性质得到明显改善,相比MgxZn1-xO薄膜,其电阻率和迁移率显著提高。此外通过高温退火处理可以有效提高所制备薄膜的晶体质量,进一步提高样品电学特性,其中经过500℃退火后的薄膜迁移率达到了40.9cm2·Vs-1,电阻率为0.005 7Ω·cm。但随着退火温度的进一步升高,薄膜晶体尺寸从25.1nm增大到32.4nm,从而降低了该薄膜的迁移率。因此该夹层结构的MgxZn1-xO/Au/MgxZn1-xO薄膜对于促进ZnO基透明导电薄膜在深紫外光学器件中的应用有重要作用。 相似文献
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新版国家标准GB 21027-2020《学生用品的安全通用要求》于2020年7月23日发布,自2022年2月1日起执行,及时开展新标准开验工作是实验室能力认可和标准实施的基础。一些情况下,不确定度过大会使检测结果难以应用,甚至不能按标准要求进行合格评定。因此,有必要对测定结果的不确定度进行评估和验证,以满足应用需要。 相似文献
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CeO2具有良好的赝电容, 但有关碳/CeO2复合材料的电化学性能有待改善. 本工作采用简单的微波辅助合成法, 将氧化石墨烯与Ce(NO3)3混合发生氧化还原反应, 获得还原氧化石墨烯(rGO)/CeO2复合材料. 通过形貌观察, CeO2以颗粒形式均匀分布在褶皱的rGO上, 且沿着rGO表面仿形生长; 纳米级CeO2颗粒之间存在微小间隙. N2吸/脱附测试结果表明, rGO/CeO2具有大的比表面积和介孔孔径, 有益于与电解液充分接触. 通过电化学测试, rGO/CeO2的比电容高达468 F•g-1, 经过10000次充放电循环, 电容保持率高达107.3%. 优异的循环稳定性归因于大表面积的rGO与均匀薄层的CeO2良好的协同效应减少了离子传输的阻力以及CeO2颗粒之间微小的间隙, 缓解了Ce4+还原为Ce3+过程中发生的晶格膨胀. 将rGO/CeO2组装成对称型超级电容器rGO/CeO2||rGO/CeO2获得的能量密度达18.16 Wh•kg-1. rGO/CeO2作为超级电容器电极材料具有广阔前景. 相似文献
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