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1.
采用MOCVD技术在Al2O3(0001)衬底上生长了GaN薄膜,使用透射光谱、光致发光光谱和X射线双晶衍射三种技术测试了五类GaN薄膜样品,实验结果表明:GaN薄膜透射谱反映出的GaN质量与X射线双晶衍射测量的结果一致,即透射率越大,半高宽越小,结晶质量越好;而X射线双晶衍射峰半高宽最小的样品,其PL谱的带边峰却很弱,这说明PL谱反映样品的光学性能与X射线双晶衍射获得的结晶质量不存在简单的对应关系,同时还报导了一种特殊工艺生长的高阻GaN样品的RBS/沟道结果。 相似文献
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在稀H2SO4介质中,钼(Ⅵ)对硫酸联氨还原乙基橙的反应有强烈的催化作用。建立了催化动力学极谱法测定痕量钼的新体系,方法线性范围为20-300ng/mL,检出限为3.54ng/mL。方法应用于尿中中钼的测定,结果满意。 相似文献
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