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1.
分子光谱对于待测元素分析线的干扰是光谱分析中不可忽略的一类光谱干扰。ICP-AES中的分子光谱主要来自O_2、NH、NO以及OH分子的发射,其中OH分子光谱产生的光谱干扰尤为严重。在ICP-AES中,试样的引入方法一般是将样品处理成溶液后,以气溶胶的形式引入等离子体中,因此随之带入少量水分。在  相似文献   
2.
ICP—AES中Ni,Fe,W,U基体对元素杰出线的干扰   总被引:3,自引:0,他引:3  
  相似文献   
3.
ICP-AES中三十种常见元素间的光谱干扰   总被引:1,自引:1,他引:0  
一、前言在ICP-AES分析中,元素光谱线之间的干扰是相当严重的。人们总是希望能够顺利地判断和排除第二元素或第三元素的光谱干扰,以选择适合的分析线。在实际工作中,R.K.Winge等人的元素杰出线表、MIT光谱表、NBS光谱表、P.W.J.M.Boumans光谱表、M.L.Parsons光谱表及A.N.Zaidel光谱表都只具有参考价值。由于ICP光源的特殊激发机理,使一些谱线被加强,而使另一些难以激发的谱线被激发出来,因此,元素在ICP中的光谱线比在电弧、火花中的光谱线多。在ICP-AES分析应用中,为了  相似文献   
4.
ICP中钨基体对三十种元素的光谱干扰   总被引:2,自引:0,他引:2  
万家亮  金泽祥 《分析化学》1989,17(11):1031-1032,1030
  相似文献   
5.
本文详细研究了0.1%Ca和0.1%Mg基体在端视ICP中对激发电位不同的谱线的干扰效应;对端视与侧视ICP中的基体干扰进行了比较;探讨了主要工作参数对基体干扰的影响。结果表明,在Ca、Mg基体存在时,大部分待测元素的谱线受到抑制,并且激发电位较高的谱线受抑制程度较大;侧视ICP中基体干扰比端视ICP中略好;适当增大功率和选择合适的载气流量可减少Ca或Mg基体的干扰。  相似文献   
6.
氢化物发生与ICP/AES联用后等离子体的性质研究   总被引:5,自引:0,他引:5  
本文通过测量电子密度ne,电子温度Te,激发温度Texc及谱线强度,将氢化物进样同水溶液常规气动雾化进样对比,研究了氢化物进入ICP后,对等离子体性质的影响。结果表明,由于氢化物的引入,ICP的激性能得到了改善。  相似文献   
7.
前言原子光谱分析中,试样引入过程制约分析物进入原子化器或激发光源的条件,在很大程度上决定分析的检出限和精密度。如何将试样均匀、稳定而有效地引入分析系统是原子光谱技术研究中最活跃的领域之一。与其它进样技术相比,液体试样引入技术最吸引人的方面之一是它的相对简单性和可靠性。这种特点与为了提供适当的取样统计效果而常常需要试样分解步骤的事实结合在一  相似文献   
8.
在ICP发射光谱分析中,由于光源的激发能力强,使有些元素产生比在其他光源中更富的光谱线,同时,由于存在着各种光谱变宽效应,ICP中的光谱干扰是严重的。在实际工作中,R.K.Winge等人的元素分析线表、MIT光谱表、BOUMANS光谱表都具有重要参考价值;但是,当在富线元素的基体中进行元素分析时,为了选择适合的分  相似文献   
9.
报道了高师教学改革计划重点立项项目“4 + 2”“理学学士 教育硕士”6年制新型骨干师资培养模式的理论研究与实践效果 ,特别是实践和总结了在理学学士阶段的课程设置 ,实践效果 ,成果特色和拟再研究的问题  相似文献   
10.
提出了一种新的增感机理:在表面活性剂的cmc前,气溶腔形成过程中被测离子在小液滴上富集产生增惑;cmc后富集作用减小,但被测离子和表面活性剂形成胶团化物产生新的增感,火焰部分表面活性剂的不完全燃烧增强了火焰的还原性是增感因素之一。  相似文献   
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