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81.
(一) 現行中学数学教学大綱是解放后在党的领导下,学习苏联先进經驗,結合我国具体情况,經过了好几次修订,在1956年才颁布的,其中个别部分在1957年又作了调整。因此它具有很多的优点: (1)大綱特别强調要教给学生的基础知識。在大綱的說明部分,开始就提出:“中学数学教学的目的是教给学生有关算术、代数、几何和三角的基础知識,…。”又指出:“在数学教学中,应当特别注意使学生自觉地掌握数学中的基本的概念、观念和方法,…”。这与旧中国完全凭教师兴趣和爱好或猜升学考試题去确定教材,在根本上忽视基础知識的情况有本貭上的区别。 相似文献
82.
83.
84.
自由空间孤立导体的电容的计算新近受到了重视,因为这个计算是多电极系统的电极间互电容计算的第一步。本文提出采用混合的外接及内接曲面的方法来求得待计算导体电容的上限及下限,这个方法用在特殊截面同轴线特性阻抗的问题上收到了较好的效果。 试取图1中所示的有限长正方柱的自由空间的电容问题。文献[2]中已出现用外接及内接旋转长椭球曲面给出的此电容值粗的下限及上限。显然,如以一同长度的内接圆柱体的电容作为这个正方形柱的电容的下限,即可得到一个较大的下限。计算指出,如 相似文献
85.
水、乙腈、气体烃体系组分的准确快速分析是乙腈萃取丁二烯的重要分析项目。这种相似体系全组分的准确快速分析是气液相平衡、含水有机系统、水相催化反应动力学研究要解决的重要课题。普通色谱法难以实现这一分析,因为水、乙腈和C_2—C_4烃组分的沸点相差达190℃以上,要找到一根既能将它们一一分离而分离时间又很短的色谱柱几乎是不可能的,并且常用的硅藻土担体使水峰产生严重拖尾,将直接影响定量。 相似文献
86.
一、引言近年已有许多作者论述了计算机在分析化学中的应用,但是探讨多组分混合物吸光度法的文章尚不多见。目前应用吸光度法,是将过量的有机试剂与欲测元素生成有色络合物,根据比尔定律构筑校正曲线来测定欲测元素。但是有机试剂与络合物的吸收曲线互相重叠且吸收峰间相距越小,则产生的误差就越大;另外,当 相似文献
87.
林为干 《数学物理学报(B辑英文版)》1984,(4)
The problem of calculating the step capacitance between two rectangular waveguides of the same width but of different heights seems to be an old one. One family of curves in Marcuvitz's celebrated Waveguide Handbook has aroused the author's interest to investigate thisproblem anew. The classical method of field matching is employed to set up the formal solution, however, as the final answer, an average process is adopted to arrive at a closed form formula that can be treated numerically with ease. An example with an accuracy of about 1% is given. 相似文献
88.
本文提出了一腔双模矩形开口腔的近似理论,再用金属栅条来控制腔体内两个接近简并的模,使腔外物体只对其中一个模产生做扰(称该模为工作模),而对另一个模不产生微扰(称为参考模)。从理论上可以通过测量双模的谐振频率之差地f1-f2=△f及双模的有载Q值之差QL1-QL2=△Q这两个参数来确定腔外物体的两个参数,例如,此物体的含水量及其温度。利用这个原理做出的微波检测设备(例如测湿设备)就可以直接在较差的环境下工作。文中还近似地计算了矩形波导端面开一个对称的矩形窗口的归一化等效导纳,并测试了样本谐振腔作为传感器。结果表明,它可以用于工业生产,作为连续测试的可携带式仪表。 相似文献
89.
本文提出用图形逼近和取尺寸上、下限值的几何平均值的方法,计算椭圆外导体-矩形内导体同轴线特性阻抗。矩形截面内导体的内切共焦椭圆和外接共焦椭圆,通过保角变换,变成同心圆。矩形变成近于矩形的闭合曲线,二同心圆分别为它的最小值和最大值,取二者的几何平均值,与同轴椭圆截面外导体同时变成的同心圆,构成一个标准同轴线,得到了特性阻抗公式。并由此推导出椭圆外导体-微带内导体、圆形外导体-方形内导体、圆形外导体-矩形内导体及圆形外导体-微带内导体等各种同轴线的特性阻抗的初等函数表示式。给出了上述几种同轴线的特性阻抗准确数值。
关键词: 相似文献
90.
K9和石英玻璃基片上Au膜真空紫外反射特性研究 总被引:3,自引:0,他引:3
采用离子束溅射法,分别在经过不同前期清洗方法处理过的K9及石英玻璃光学基片上,选择不同的镀膜参量,镀制了多种厚度的Au膜。对镀制的Au膜在真空紫外波段较宽波长范围内的反射率进行了连续测量。测试结果表明:辅助离子源的使用方式、Au膜厚度对反射镜的反射率有重大影响。基片材料、镀前基片表面清洗工艺等对反射率也有一定影响。采用镀前离子轰击,可显著提高Au膜反射率及膜与基底的粘合力;获得最高反射率时的最佳膜厚与基片材料、镀膜工艺密切相关。对经过离子清洗的石英基片,膜厚在30 nm左右反射率最高;比较而言,石英基片可获得更高的反射率;辅助离子源的使用还显著影响获得最高反射率时对应的最佳膜厚值,且对K9基片的影响更显著。 相似文献