SD配对壳模型对质量数A~130区原子核的形状渡越研究(英文)

利用SD配对壳模型研究了质量数A~130区原子核的低激发态性质。为了减少参数,模型采用了等强度对力,取质子和中子对力强度等同近似,而非同类核子间的四极-四极相互作用强度取为同类核子间四极-四极相互作用强度的两倍。计算结果显示,模型的振动-转动和振动-γ不稳定运动的形状渡越特征与相互作用玻色子模型对应的形状相变特征基本吻合,从而说明SD配对壳模型是壳模型的一种合理近似。The SD-pair shell model is applied to analyze the evolution of low-lying states of even-even nuclei in A~130 mass region. In the model, the pairing and the quadrupole-quadrupole interactions are taken into account. The results show that there are clear signatures of the crossover from vibrational to rotational or from vibrational to the γ-soft shape phase.     

Total Ionization Dose Effects on Charge Storage Capability of Al_2O_3/HfO_2/Al_2O_3-Based Charge Trapping Memory Cell

Because of the discrete charge storage mechanism, charge trapping memory(CTM) technique is a good candidate for aerospace and military missions. The total ionization dose(TID) effects on CTM cells with Al_2O_3/HfO_2/Al_2O_3(AHA) high-k gate stack structure under in-situ 10 keV x-rays are studied. The C-V characteristics at different radiation doses demonstrate that charge stored in the device continues to be leaked away during the irradiation,thereby inducing the shift of flat band voltage(V_(fb)). The dc memory window shows insignificant changes, suggesting the existence of good P/E ability. Furthermore, the physical mechanisms of TID induced radiation damages in AHA-based CTM are analyzed.     

45 nm MOSFET毫米波小信号等效电路模型参数提取技术

为了有效地表征45 nm MOSFET毫米波频段下的电学特性,研究了其高频等效电路的建模方法。基于45 nm MOSFET的器件物理结构及其导纳参数分析,通过综合考虑器件的本征物理特性、管脚及测试寄生特性,提出了一种准静态近似的高频等效电路模型及其参数直接提取的高精度简化算法,以此来统一表征模型参数从强反型区到弱反型区的偏置依赖性,并使之在不同偏置条件下的特性表征具有良好的连续性,以便于移植到商业仿真设计自动化工具中。通过ADS2013仿真工具的散射参数模拟结果与测量数据的一致性比较,验证了所建模型的实用性及其参数提取算法的准确性, 并表征了45 nm器件的偏置依赖性。     

B2-和B19'-NiTi表面原子弛豫、表面能、电子结构及性能的理论研究

采用基于密度泛函理论的第一性原理系统研究了B2-和B19'-NiTi合金所有低指数表面的表面能、表面结构稳定性、表面电子结构等性质.计算结果表明两种NiTi合金所有低指数表面的原子弛豫主要集中在表面2-3个原子层,且以Ti原子为终止原子表面构型的原子振荡最为剧烈,Ni和Ti原子共同终止表面构型的原子振荡最小;价电荷密度沿着表面构型向真空层方向快速衰减;表面能计算结果显示其与配位数成反相关.B2-和B19'-NiTi合金的非密排且非化学计量比表面的表面能取决于Ti的化学势,表面能数值较高;而密排面的表面构型符合化学计量比,其表面能较低,表现出卓越的化学稳定性;其中以B2-NiTi(101)密排面的表面稳定性最优.     

宽波段单色仪多级谱高精度波长定标

通常利用单色仪输出的单色光对空间遥感光谱仪进行波长定标。提出以空间遥感光谱仪的置信度为标准,来评价宽波段单色仪高精度波长定标精度的方法。通过对仪器精度的分析,分别求出单色仪的波长的重复性误差和偏差。应用高压汞灯的本征谱和光栅衍射多级谱作为定标谱线,避免更换灯源带来的误差。通过粗细定标相结合的方法,缩短扫描时间,并且运用高斯拟合对波峰进行精确定位,缩小误差。最后利用高次拟合得到的关系式,测出单色仪波长精度,计算出空间遥感光谱仪定标的置信度。以1.5 M单色仪为例,单色仪在200～840 nm波段内波长精度±0.016 nm,则空间遥感光谱仪的波长精度达到±0.050 nm的置信度为99.82%。     

星上定标漫射板远紫外BRDF测量方法

针对星载漫射板远紫外波段(140~240nm)的双向反射分布函数测量过程中,探测器响应线性问题和紫外光源稳定性差的问题,提出一种采用光源监测比例补偿的相对测量方法.根据测量方法设计了一种基于六自由度转台结构形式的测量系统,该系统采用漫射板两维平移+两维转动、探测器两维转动的组合运动形式,可实现漫射板半球空间内任意点、任意方位的双向反射分布函数测量.用所提方法进行测量实验,并对影响系统测量结果的主要因素进了不确定度分析,结果表明总测量不确定度约为5.5%.     

传感器光谱指标对植被光谱模拟精度的影响

高光谱卫星数据模拟是卫星遥感数据模拟的重点研究方向,基于星载多光谱数据和地物光谱先验知识是一种快速模拟高光谱数据的方法,但数据模拟精度受传感器光谱指标的限制。文章针对EO-1/ALI的可见光/近红外波长范围进行实验,研究了波段数量、半波宽度和波长位置等光谱指标与植被光谱模拟精度的关系,分析了两者之间的变化规律。研究表明,光谱指标决定了植被光谱特征提取,是影响光谱模拟精度的直接原因。文章总结了适于光谱重构模型的光谱参数范围,实验结果有利于提高植被光谱模拟精度。该结论可用于多光谱传感器的性能评价及其分光滤色结构的改进。     

基于激光干涉测量的液体高脉冲压力校准

针对压电式高压传感器等的幅值灵敏度脉冲压力校准中的量值溯源问题,将一种基于牛顿第二定律的液体脉冲压力激光干涉测量方法用于落锤式液体高脉冲压力校准装置。通过质量块的动力学建模以及激光干涉测量质量块的加速度,得到脉冲压力幅值大小,使脉冲压力幅值能溯源到时间、长度与质量等基本量。通过对压力和加速度分布不均、摩擦力等影响进行理论与实验分析,压电式压力传感器幅值灵敏度校准不确定度得到了完整评估。激光干涉法液体脉冲压力校准装置压力幅值覆盖（10~500）MPa,扩展不确定度在1.8%以内。     

Synthesis of Highly Luminescent LnMOFs through Structural Regulation

Two series of three dimensional（3D） lanthanide metal-organic frameworks（LnMOFs） of [Ln（tftpa）_1.5（phen）(H₂O)]_n（Ln = Sm 1a, Eu 1b, Tb 1c, Dy 1d, H2tftpa = tetrafluoroterephthalic acid, phen = 1,10-phenanthrolin） and [Ln（tftpa）1.5（bpy）(H₂O)]_n（Ln = Sm 2a, Eu 2b, Tb 2c, Dy 2d, bpy = 2,2’-bipyridine） are obtained by structural regulation. Results reveal that the 3D LnMOFs show high water-and thermal-stability. Interestingly, through selecting the ...     

气体传感器气敏性能测试技术研究进展

对国内文献报道的气体传感器气敏性能测试系统的设计开发情况进行综述。从配气系统、数据处理系统、软件开发三个方面对半导体型气体传感器测试系统的组成进行了概述。配气系统为气敏性能测试提供一定浓度目标气体,分为静态配气法和动态配气法,动态配气法制备出的气体精确度较高,误差较小,可以连续制备气体,是目前主要配气方式。控制器是测试系统的核心部件,负责接收、处理、储存传感器与目标气体反应产生的信号,应用较多的是单片机,其次是ARM微控制器,但都存在内存和存储空间有限的问题。测试软件主要功能是发送指令,实现整个测试系统的有序运行,并实时显示测试结果,目前开发工具种类较多,其中LabVIEW较受青睐。未来气敏测试系统的测试精确度和测试效率还需进一步提高,研究开发功能更加全面的测试系统,来满足其它类型传感器测试需求。