645 MeV Xe35+离子辐照SiO2在线光发射的研究

离子辐照可以改变二氧化硅(SiO₂)的晶体结构和光学性质.采用645 MeV Xe³⁵⁺离子辐照SiO₂单晶,在辐照过程中,利用光栅光谱仪测量在200—800 nm范围内的光发射.在发射光谱中,观测到中心位于461和631 nm的发射带.这些发射带是弗伦克尔激子辐射退激产生的,其强度与辐照离子能量和辐照离子剂量密切相关.实验结果表明:发射光强随离子在固体中的电子能损呈指数增加.由于离子辐照对晶体造成损伤,发射光谱强度随辐照剂量的增加而降低.文中讨论了这些与晶体结构有关的发射带,结合能量损失机制讨论了激子形成和退激过程.快重离子辐照过程中发射光谱的原位测量对研究辐照改性具有重要意义,有助于揭示离子辐照引起晶体损伤的物理机制.     

高电荷态Ar17+离子与不同固体表面相互作用的X射线谱研究

报道了利用光谱技术研究高电荷态Ar17 离子入射金属Be、 Al、 Ni 、Mo、Au靶表面产生的X射线谱.实验结果发现Ar17 离子与固体表面作用发射的Ar Kα-X射线形状与靶材料没有明显的关系,随入射离子能量的增加,Kα-X射线强度减小.     

Surface Plasmon—Assisted Excitation of Atomic Visible Light Spectral Lines in the Impact of Highly Charged Ions 126Xeq＋ on Solid Surfaces

We measured the visible light spectral lines of sputtering atoms from solid surfaces orAl, Ti, Ni, Ta and Au which are impacted by 150 keV 126Xeq (6 ≤q ≤ 30). It is found that intensities of the light spectral lines are greatly and suddenly enhanced when the charge state of the ion is raised up to a critical value. If assuming that potential energy released from the incident ion due to capturing one electron is enough to excite a surface plasmon, we can estimate the critical charge states and obtain the results very well consistent with the measurements for the above-mentioned target materials. This means that a surface plasmon induced by one electron capture can enhance the excitation of atomic visible light spectral lines in the impact of a highly charged ion on a solid surface.     

用于高电荷态离子与表面相互作用研究的原子物理实验平台

在重离子加速器国家实验室ECR离子源上,成功组建了用于高电荷态离子与表面相互作用研究的原子物理实验平台;利用该实验平台,研究了用不同电荷态和不同速度的高电荷态离子与不同表面相互作用的可见光和X射线发射的情况,同时还研究了高电荷态Xe离子轰击晶体材料所引起的材料性质和表面结构变化的情况.     

用束箔技术研究Ar离子高电离态激发光谱

本文介绍用箔技术研究94MeV的Ar离子和C箔（39μg/cm^2）相互作用，产生高电离态的类Be(ArXV）－类C（ArXIII）等少电子离子。同时，这些离子的电子被激发到高能级，退激放出真空紫外光谱（VUV），测量这些光谱，可以得到原子状态的信息。     

原了分子物理学研究课题的分析

根据近期召开的几届国际加速器和原子分子物理专题会议内容和物理摘要，分析了原子分子物理学的研究现状和发展趋势，归纳了目前研究的一些课题和今后的研究方向。     

多电子转移研究的符合关联实验测量系统

对近代物理研究所建成的用于研究高电荷态离子与原子碰撞中多电子转移过程的符合关联实验测量系统;该系统的飞行时间谱仪、位置灵敏探测器、多参数数据获取系统分别进行了介绍;给出了利用加速器提供的离子束Ar¹²⁺→Ar调试的反冲氩离子飞行时间谱仪和O²→He离子束调试位置灵敏探测器的实验结果,给出了104keV的Ar⁸⁺+Ar碰撞的最新实验结果,并对Ar⁸⁺+Ar反应的二维关联谱的结果进行了分析,研究鉴定了这一碰撞反应中的多电子转移过程和残余气体引起的多次碰撞.     

天体等离子体中铝发射谱线的研究

结合天体等离子体中铝发射谱和某些能级寿命的测量,对束箔光谱技术可为天体物理学研究提供重要信息和重要性进行了简述     

聚变中的某些物理问题

对核聚变中的某些物理问题进行了论述和探讨。