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提出了一种基于伪维格纳分布(PWVD)的融合方法.利用一维N像素的滑动窗口在各个方向上对各待融合图像进行伪维格纳变换,选择均方根最大的方向为各待融合网像的PWVD分解方向,分解形成待融合图像不同频段的能量谱图,然后,针对各待融合不同频段的能量谱图,融合原则足高频段取区域能量最大,低频段取能量方差最大,形成具有不同频段的融合能量谱网,最后,对能量谱网进行PWVD逆变换,形成融合图像.对红外与可见光图像、多聚焦图像、电子计算机X射线断层扫描(CT)图像与磁共振(MR)图像和红外与合成孔径雷达(SAR)图像进行了融合实验,并对融合图像和待融合图像进行了信息熵对比.实验结果表明,采用本文算法的融合图像保留了待融合图像的绝大部分信息. 相似文献
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基于伪魏格纳分布分解的合成孔径雷达图像目标与阴影分割 总被引:5,自引:4,他引:1
在二维魏格纳分布的框架内,针对魏格纳变换的交叉项问题和计算量大的问题,提出了合成孔径雷达图像局部伪魏格纳变换的目标和目标阴影的分割方法.首先,将合成孔径雷达图像进行二维伪魏格纳变换,得到各像素点的二维能量谱图;然后提取各像素点的二维能量谱图对应位置值形成多个不同频段的与原图像同大小的能量谱图;最后,对不同频段的能量谱图采用不同的处理方法后,将各能量谱图相加处理后形成区域标识图像,最终得到原图像的目标和目标阴影分割图像.本文利用该方法对MSTAR切片图像进行了分割试验,并对分割图像与频谱最大值距离或方位分割算法和基于双参量CFAR与隐马尔科夫联合分割算法进行了分割图像对比度对比.实验结果表明,采用本文算法的合成孔径雷达分割图像,对比度明显提高,且保留了目标图像细节. 相似文献
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图G 的(d,1)-全标号是从V(G)∪E(G)到非负整数的函数,且满足:(i) G中任意2个相邻顶点的标号不同;(ii) G中任意2个相邻边的标号不同;(iii) 顶点与其关联边的标号差至少为d.(d,1)-全标号的跨度是标号差的最大值. G 的(d,1)-全标号数是G的所有(d,1)-全标号的最小跨度,记为λTd(G).本文完全给出了Mobius梯的(d,1)-全标号数. 相似文献
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针对光电对抗仿真的技术要求,研究并开发了用于轰炸机光电对抗研究与对抗策略验证的交互式视景仿真系统.首先分析了红外制导导弹的导引过程,以及常见的光电对抗仿真方法,然后对基于视景仿真软件OpenGVS的视景仿真程序开发与基于Multigen Creator的三维模型构造方法进行了介绍,在此基础上利用面向对象的软件设计方法开发了视景仿真程序.程序的功能包括轰炸机与导弹飞行过程模拟、导弹制导方式仿真、干扰弹的投放与运动仿真、干扰策略中的人机交互等.经过实际使用,所开发的轰炸机光电对抗视景仿真软件可以逼真地实现对轰炸机、导弹的飞行以及干扰弹投放过程的仿真. 相似文献
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研制出了一种采用后分光技术,微硅片多狭缝进行像元分割,硅光电二极管阵列为探测器的微型分光光度计。分析了光谱带宽对测试得到的溶液吸光度线性相关性的影响,讨论了分光前后狭缝宽度与分光光度计光谱带宽之间的关系,为分光光度计前后狭缝的设计提供了理论依据。采用MEMS(微机电系统)工艺制造出了体积小、精度高、厚度薄的一体式微硅片狭缝,并将其应用于分光光度计中。采用此分光光度计对线性吸光度溶液进行测试,结果表明线性相关系数大于0.999,说明所研制的采用微硅片狭缝的分光光度计具有高度线性相关性。 相似文献
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选用SAPO-11、ZSM-22两种分子筛为载体,浸渍Pt制备了Pt/SAPO-11和Pt/ZSM-22催化剂,以正庚烷为模型化合物,考察乙醇对催化剂临氢异构化反应性能的影响。并通过BET、XRD、C2H5OH-TPD和C2H5OH-FTIR等表征手段对催化剂的物化性能以及吸附反应性能和不同活性酸性位点进行了研究考察。结果表明,乙醇在临氢异构转化过程优先生成H2O,并以H2O的形式影响催化剂的异构化性能,催化剂异构活性与选择性随乙醇含量的增加而降低。与Pt/ZSM-22催化剂相比,Pt/SAPO-11催化剂由于有P-OH基团,表现出一定的抗含氧化物乙醇的性能。 相似文献
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提出新型高通量离子色谱仪快速测定水利工程水样中5种阳离子Na~+、NH_4~+、Mg~(2+)、Ca~(2+)和K~+的含量的方法。采用TSKgel Super IC-CR阳离子交换柱,以2.2 mmol·L~(-1)甲基磺酸和1.00 mmol·L~(-1)18冠醚6的混合液为淋洗液,流量为0.7 mL·min~(-1),柱温为40℃,凝胶抑制电导检测,可在18 min内完成对5种阳离子的分析。5种无机阳离子的质量浓度在一定范围内与其峰面积呈线性关系,Na~+、NH_4~+、Mg~(2+)、Ca~(2+)和K~+的检出限(3S/N)分别为7.1,6.3,9.5,10.0,8.3μg·L~(-1),水样的加标回收率为95.3%~104%,相对标准偏差(n=5)为0.26%~4.0%。 相似文献