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浅谈全国大学生电子设计竞赛 总被引:4,自引:0,他引:4
介绍了“2001年全国大学生电子设计竞赛”的情况以及我院参赛的一些收获体会。 相似文献
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本文概括介绍了一种实用的电子线路设计与仿真软件EWB5.0(ElectronicsWorkbench5.0)。 相似文献
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据权威人士介绍,我国目前综合科技实力和最发达国家相比,要落后二三十年左右,要赶上并超过发达国家,可能需要50-100年,甚至更长时间。中国有着5千年的灿烂文化,有着古老的四大发明,可是,明末清初后,我国在科技上逐渐落后了。翻开上一世纪世界科技发展史,我们不难看出,对人类影响较大的重大科技成果几乎与中国人无缘。在本世纪,仅有的几位华裔诺贝尔奖获得者也都是长期旅居海外,这些不能不引起我们深思。 我国已制定了科教兴国的宏伟战略,正在实施素质教育计划,这些无疑对缩小我国和发达国家在科技上的差距具有重大意义。 相似文献
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一些中学生在课外活动进行电子制作时,常苦于没有万用表,不能判断一些电子元件是否损坏.笔者用电子电路制作了一台简易电子元件测试仪,用它可以大致判断小电容、二极管、三极管和电子线路等是否损坏. 相似文献
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用硅光刻工艺和二氧化硅湿法腐蚀工艺制作了针状封装结构的光纤消逝场传感器.该结构的传感器体积小、试剂消耗量少,减轻了测量过程中光纤的变形,密封的结构可以有效地防止传感器受到污染.从理论和实验角度研究了不同长度的光纤消逝场传感器的测量结果,分析了传感光纤长度对传感器吸光度的影响,指出随着传感器传感光纤长度的继续增加,会使后续增加的传感光纤对传感器灵敏度的贡献越来越小.
关键词:
硅光刻工艺
针状封装
光纤消逝场传感器
传感光纤长度 相似文献
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研制出了一种采用后分光技术,微硅片多狭缝进行像元分割,硅光电二极管阵列为探测器的微型分光光度计.分析了光谱带宽对测试得到的溶液吸光度线性相关性的影响,讨论了分光前后狭缝宽度与分光光度计光谱带宽之间的关系,为分光光度计前后狭缝的设计提供了理论依据.采用MEMS(微机电系统)工艺制造出了体积小、精度高、厚度薄的一体式微硅片狭缝,并将其应用于分光光度计中.采用此分光光度计对线性吸光度溶液进行测试,结果表明线性相关系数大于0.999,说明所研制的采用微硅片狭缝的分光光度计具有高度线性相关性. 相似文献
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