类锂硅离子X射线激光谱线宽度和电子密度的空间分布

通过分析类锂硅离子X射线激光谱线宽度的空间分布特性,表明斯塔克展宽是主要的展宽机制;由此得到增益介质电子密度的空间分布显示增益区电子密度约在10¹⁹/cm³左右,对应最大增益处的线宽为0.21?,电子密度为2.9×10¹⁹/cm³。 关键词：     

激光产生的CuⅩⅩⅡ离子X光谱线辨认

用TIAP晶体谱仪拍摄了8～14(?)波长范围内铜的激光等离子体X光谱,以铜的类氧离子为例,采用由能级值反推跃迁波长的方法,同时结合等电子序列的莫塞莱定律,归类了2p~3ss—2s~22p~4和2p~33d—2s~22p~4之间一百多条新的谱线,与实验结果相比较,大部分波长误差在±5m(?)以内.     

用低能放射性源对X光底片作定量标定的方法

用Si(Li)X射线能谱仪测量了低能放射性源~(55)Fe的辐射强度,用“时间标尺”法对5F型医用X光片和Kodak无屏X光片乳剂对于~(55)Fe辐射的特性曲线作了定量标定.结果表明,对于5F底片,与密度D=1相应的曝光量H_(D=1)=12×10~7photo/cm~2.     

类锂硅离子软X射线激光的空间特性

本文报道类锂硅离子软X射线激光的空间分布特性,研究表明软X射线激光的最佳增益在离靶面约300μm的中等等离子体密度区,而临近靶面的高密度区增益则较小.     

软X射线激光增益实验研究

在中国科学院上海光机所的六路激光装置和LF12激光装置上成功地进行了复合泵浦软X射线激光增益实验。利用自制的一维空间分辨掠入射光栅光谱仪和针孔透射光栅光谱仪研究了线聚焦激光辐照平板靶产生的线状等离子体中铝和硅的类锂离子的自发发射放大(ASE)性能。测量了不同长度的线状等离子体的沿轴向发射的类锂铝和硅离子谱线的时间积分强度,结果证实类锂A¹⁰⁺离子的5f-3d跃迁(波长105.7)和Si¹¹⁺离子的5f-3d跃迁(波长88.9)、5d-3p跃迁(波长87.3)等谱线的强度随等离子体长度非线性增长,相应的增益系数分别为3.1±0.9,1.5±0.5和1.4±0.5cm^-1,最大增益长度乘积约为2.5。本实验是首次观察到类锂Si¹¹⁺离子的5f3-d和5d-3p跃迁的激光增益,X软射线激光波长已短于100。特别有意义的是,上述结果是在低的泵浦激光功率密度条件下取得的。研究表明,采用类锂复合机制,有可能在我们现有的激光驱动装置上将软X射线激光推进到“水窗”(43.8—23.3)波段。     

掠入射一维空间分辨光栅谱仪的特性及应用

描述了可在ＸＵＶ光谱区获得消像散光谱的掠入射一维空间分辨光栅光谱仪的原理，特别是作为光谱仪前置集及及像散补偿的掠入射反射光学系统的特性，并给出了成像光谱仪的空间分辨能力的实测方法和测量结果，实验值与用光线追踪模拟的结果相符，语言中还简述了该一维空间分辨光栅谱仪在激光等离子体诊断和Ｘ射线激光研究中的具体应用。     

等离子体中高阶电离离子的空间分布

本文利用高空间分辨的X射线针孔相机、晶体谱仪和光探针从三维空间上探测激光辐照平面靶产生的等离子体高、低阶电离离子的分布,发现高、低阶离子所占据的空间都具有近似的圆锥形状态,但它们重迭且方向相反。本文也得到了等离子体中离子密度在空间上的两种分布结构。 关键词：     

线状钛激光等离子体的光谱特性

通过研究线状激光等离子体的轴向光谱，辨认和归类了一些高离化态钛离子的谱线，并发现钛等离子与表层氧化物离子体的相互作用导致轴向发射光谱强度变化的现象。     

激光产生的钴离子体x射线发射光谱

用TlAP平晶谱仪记录了8～15波长范围内钴的激光等离子体X射线发射光谱。根据等离子数序离子光谱的规律性,识别和归类了其中大部分谱线,它们分别属于类钠至类锂之间各电离级离子跃迁。     

AlⅤ、AlⅥ、AlⅦ、AlⅧ和AlⅩ离子XUV光谱的进一步分析

将千兆瓦大功率钕玻璃激光装置发出的激光束聚焦于固体平面铝靶上,产生一高温、高密度等离子体,用1米掠入射式凹面光栅摄谱仪记录了等离子体在50—110(?)波长范围内的发射光谱。用HXR自洽场方法和非线性最小二乘法拟合方法相结合,对铝的高离化态离子谱线和相应的能级进行了分析和计算,共辨认和归类属于AlⅤ、AlⅥ、AlⅧ、AlⅧ和AlⅩ离子的新谱线61条。