神经网络基本参数算法校正非线性基体效应

提出了神经网络基本参数－NNFP算法,将NNFP算法应用于X射线荧光定量分析中,与理论α系数相比,NNFP算法提高了非线性基体效应校正能力和预测准确度。     

含硫化合物的SK~αX射线荧光光谱的研究

在RIGAKU 3070X射线光谱仪(双晶)上系统测定了含硫化合物的SK~α谱; 用统计试验最优化方法处理实验数据, 得到了峰谱的峰位, 非对称因子, 半高宽度等信息; 并计算了化学位移和部分化合物硫原子的净电荷。讨论了硫化合物SK~α谱化学位移的变化规律及原因。线性回归分析结果表明: 硫化物SK~α谱的化学位移与价态, 硫的含氧化合物SK~α谱的化学位移与O/S原子数比之间都有较好的线性关系; 并给出了线性相关系数及线性方程。     

用NBSGSC计算机程序和单标样的理论a系数法分析结果

经验系数法根据所用的经验校正方程类型和所希望分析的组分范围,一般需要相当多的优质多元标样。与此相比基本参数法则原则上仅需纯元素标样或单只多元标样。因为在有些情况下难于获得纯元素标样,加之若用单只多元标样可以消除或减少理论公式的不完善性从及基本参数的不准确性,因此使用单只多元标样更可取     

X射线荧光光谱分析

本文是《分析试验室》定期评述中“X射线荧光光谱分析”课题的第三篇评述文章。它收集了国内学者在国内外刊物和专业会议上发表的268篇文章(其中在刊物上发表的153篇),时间基本上限于1988年6月至1990年6月。评述了在此期间我国X射线荧光光谱概况及进展。内容有仪器、进口仪器性能扩充、定量分析、定性和半定量分析、XRF在标准物质研制中的应用及状态分析和解谱程序等六个方面。关于应用方面放在定量分析方法的评述中予以论述。     

数学校正在X射线荧光光谱分析钢铁样中的应用

本文以PW1600多道X射线荧光光谱仪测定的34个钢铁样为研究对象,系统地研究了Lachance—Traill方程(以下简称L     

X射线荧光光谱分析氟化铈晶体中的掺杂元素钕

本文提出了用X射线荧光光谱（XRFS）定量分析氟化铈晶体中掺杂元素钕方法，对用XRFS进行晶体样品分析时的制样方法作了比较，并且对用XRFS非破坏分析晶体中的掺杂元素的方法进行了探讨。     

X射线荧光分析中的基本参数法——基本参数对分析结果的影响

Criss等提出的基本参数法已成为X射线荧光分析中用数学方法校正元素间吸收-增强效应的三个主要方法之一,且是其中另一方法即基本参数法和影响系数法相结合的方法的基础。因此,近年来对基本参数和基本参数法的研究受到广泛的重视。对于某些样品的测定,基本参数法的相对误差约为1—2%,这主要来源于基本参数测定的不准确性。我们曾讨论了质量吸收系数和钨靶的不同原级X射谱对一些试样分析结果的影响。为了进一步弄清基本参数法及由基本参数法计算的理论影响系数,本文对近年     

X射线荧光光谱分析

作为《分析试验室》定期评述“X射线荧光光谱分析”系列评论第八篇,本文收集国内学者在1998年7月至2000年6月期间公开发表在国内外期刊和国际会议文集上的129篇论文,并对此期间对我国X射线荧光光谱分析的概况、发展和国际上的地位进行了讲述,内容包括仪器及维修、基体校正、数据处理方法、谱分析方法的研究、标样及样品制备、全反射X射线荧光光谱、同步辐射光源X射线荧光光谱、粒子激发X射线发射、X射线荧光光谱分析方法研究及其应用。     

计算多层膜组分和厚度的软件FPMULTI及其应用

本文简述了可用于多层镀层和多层薄膜成分和厚度同时分析的计算机软件ＦＰＭＵＬＴＩ的主要特点。这个基于基本参数法的计算机软件可以分析多至１０层,最多含２５个元素的各类试样。所需的校正标样可以是纯元素或多元素的薄膜标样,亦可以是纯元素或多元素的块样。本文的研究表明,用ＦＰＭＵＬＴＩ的分析结果明显优于检量线法,体现了基本参数法的优点。