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X射线荧光光谱中影响理论计算相对强度的主要因素 总被引:1,自引:0,他引:1
提高理论相对强度计算准确度对X射线荧光定量分析及基体效应的数学校正至关重要。本文对X射线荧光光谱中影响理论计算相对强度的几种主要因素进行了探讨。考察了谱仪几何因子的不准确性对理论相对强度的影响,用三种不同来源的X光管原级谱强度分布计算和比较了一系列谱线的相对强度,通过详细考察发现不同作者发表的质量吸收系数之间及其与实测值之间在三个区域存在显著差异,并比较了用四种常用质量吸收系数算法计算的一系列谱线的相对强度,根据不同作者的激发因子算法编制了相应的计算机程序,对K~α,L~α和M~α的激发因子考察了它们之间的差异。 相似文献
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本文以统计试验最优化方法处理商用X射线荧光光谱仪测得的AlKβ谱数据,用高斯和柯西函数的叠加函数拟合AlKβ谱轮廓,依据其非对称因子定量测定了磷酸盐玻璃中铝的配位数丰度,在0~100%范围内,算术平均偏差为±5%。 相似文献
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作为改善普通X-射线荧光光谱仪的分辨率和谱线的低能拖尾现象,于PW1404谱仪上加了可拆卸的限制垂直发散准直器(6.5×20×50mm,片间距0.65mm)。实验结果表明,加了限制垂直发散准直器后,谱仪相对分辨率提高10%,谱仪非对称因子由1.4-1.5改善为1.0-1.18。为普通X-射线谱仪用于化学态分析提供了更为有利的条件。 相似文献
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硫化合物中硫K—Beta谱研究 总被引:1,自引:0,他引:1
作者应用加了限制垂直发散准直器的PhilipsP1404型X-射线荧光分析仪测定了多种含硫化合物中SKβ谱峰值。结果表明硫酸盐中SKβTβ谱峰值能量差与分析轨道理论DV-Xa方法计算结果相一致。 相似文献
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引言 Rasberry-Heinrich方程是近年来常用的数学模型之一,其优点是将激发效应作独立项处理,在Fe-Cr-Ni三元体系等试样中取得了良好的结果。当然,它像其它经验系数法的数学模型一样,也存在一定的局限性,许多作者对此曾进行了研究,其中Riveros等指出:即使在元素激发效应占优势的情况下,它们间的吸收效应也不能作零处理。因元素间的吸收效应始终存在。他还就二元体系中吸收系数A和增强系数B分五种情况进行了探讨。R-H方程表达式为: 相似文献
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