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超声导波检测技术具有对波导结构中的缺陷进行远距离无损检测的能力,多年来一直是无损检测领域关注的热点之一.有限单元法具有对各种复杂动力学问题进行计算的能力,已成为超声导波检测技术研究的重要工具.本文结合超声导波检测技术研究领域中的热点问题,对相关的有限单元法进行了简要综述.介绍了有限单元法的发展及其在多物理场耦合机制下导波的激励与接收、线弹性和黏弹性结构中导波的传播特性、非线性超声导波等多个方面的应用研究情况. 最后,基于超声导波检测技术研究趋势展望了相关有限单元法的未来研究重点和发展方向. 相似文献
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对结构中缺陷的检测和识别是无损检测中的一项重要研究课题,超声导波由于可在短时间内检测很远距离,故它的一个重要应用便是管材的检测。因而对导波检测信号的处理成为一重要研究内容,本文利用时-频分析方法中的小波变换和Wigner-Ville变换对管道和抽油杆缺陷的导波检测信号进行了分析处理。实验结果表明,进行小波变换后,缺陷回波信号的信噪比大大提高,直径仅1mm的小孔缺陷可容易地被识别出来,准确检测出其位置;通过对信号进行Wigner-Ville的相关变换,可同时在时频两域内对缺陷的回波信号进行分析,使缺陷辨别起来简单易行。两种信号处理方法的超声导波应用研究为以后导波信号的处理提供了新的实现依据。 相似文献
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Quantitative measurement of local elasticity of SiOx film by atomic force acoustic microscopy 下载免费PDF全文
<正>In this paper the elastic properties of SiO_x film are investigated quantitatively for local fixed point and qualitatively for overall area by atomic force acoustic microscopy(AFAM) in which the sample is vibrated at the ultrasonic frequency while the sample surface is touched and scanned with the tip contacting the sample respectively for fixed point and continuous measurements.The SiO_x films on the silicon wafers are prepared by the plasma enhanced chemical vapour deposition(PECVD).The local contact stiffness of the tip-SiO_x film is calculated from the contact resonance spectrum measured with the atomic force acoustic microscopy.Using the reference approach,indentation modulus of SiO_x film for fixed point is obtained.The images of cantilever amplitude are also visualized and analysed when the SiO_x surface is excited at a fixed frequency.The results show that the acoustic amplitude images can reflect the elastic properties of the sample. 相似文献
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