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一、引 言 扩展X射线吸收精细结构(EXAFS)是一种新的结构分析方法[1].测定EXAFS要求的实验条件较高,数据处理与分析也较复杂[2,3].我们利用12kw转靶X射线源在衍射仪样品台上放置平晶作分光晶体,开展了EXAFS实验方法的研究.对有关的实验技术和数据处理等问题初步作了一些工作. 二、实验方法 EXAFS的测定来用透射法,测量经吸收体吸收前、后射线强度I0与I随能量的变化.应用Rigaku RU-200 12kW转靶X射线源及D/max-rA型X射线衍射仪.实验条件一般为:银靶20 kV,70—150mA,入射和散射狭缝取1/2—2 ,接收狭缝为 0.15mm,分光晶体为LiF(… 相似文献
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对具有16电子的镍族二价阴离子系列的几何和电子结构进行了研究.在从头算和密度泛函(DFT)的水平上计算得到的几何结构与实验结果具有较好的可比性.SVWN,BP86和B3LYP计算的键长、键角一般具有相同的趋势,但SVWN计算的键长有时偏短.NP2个别情况下表现出异于DFT的趋势.电荷分布计算结果表明:在高自旋态的(扭曲)四面体NiCl4^2-中,Ni具有较高的正电荷,NP2的计算值甚至接近两个正电荷;相对而言,低自旋态的平方四边形中金属原子拥有明显较低的正电荷.计算结果证明了传统观点,即Cl^-是比CN^-更弱的电子受体,这点在NiCl4^2-的情形下体现得特别明显,Cl^-几乎没有为Ni^2+提供电子或负电荷. 相似文献
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用12kW转靶X射线衍射装置测定了非晶半导体a-As2Se3,a-AsSe以及a-As0.05,Se0.95的k吸收EXAFS,a-As2Se3经T≤Tg(玻璃转变温度)的不同温度处理后,亦进行了测定。由获得的径向结构函数分析表明:尽管a-As2Se3的短程结构与晶态c-As2Se3十分相似,但经过低于Tg的退火处理后,其径向结构函数发生了一定的变化。熔态淬火制备的a-As2Se3块体亦发生结构弛豫。此外,在非晶态As-Se二元系中随As含量的变化,材料的近程结构亦不同。
关键词: 相似文献
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将多环笼状骨架有机物在绘图软件ChemDraw中用“橡皮擦”分步擦去短桥转化为二环体系明确其主环和主桥头,其后在此化合物的结构式中用记号标明其主环和主桥头,按多环化合物的编号原则进行编号命名,即可得到此复杂结构有机物的命名。 相似文献
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