电感耦合等离子体原子发射光谱分析信息系统的开发 Ⅰ.系统分析

根据电感耦合等离子体原子发射光谱（ＩＣＰ－ＡＥＳ）分析的实际需要，开发了一种 ＩＣＰ－ＡＥＳ分析信息系统。该系统包括谱线管理系统、识别干扰程度系统、校准及干扰校正系 统、帮助系统等子系统。本文将讨论系统分析。系统设计和系统评价将在另文中讨论。     

电感耦合等离子体原子发射光谱法中Kalman滤波法解析重叠谱线的研究

考察了Kalman滤波技术校正ICP-AES中谱线重叠干扰的潜力。以新息序列的平均平方和为评价函数优化扫描光谱的峰位, 消除扫描过程中可能产生的波长定位误差, 从而保证滤波结果的准确性, 并使实际检出限显著改善。在中等分辨率光谱仪和扫描步长为1.5pm的条件下, 滤波器能有效地分辨峰间距只有4.8pm且峰形基本相同的重叠线对。对峰间距为9.8pm的重叠线时, 当线背比低至0.05左右时仍能获得满意结果。连续背景用理论描述, 因而样品溶液和纯组分溶液的光谱扫描无需扣除溶剂空白。     

ICP－AES分析中用Kalman滤波法校正光谱干扰时波长定位误差对结果的影响及消除

本工作以Ｋａｌｍａｎ滤波技术为光谱干扰校正方法，选择典型的光谱干扰为例，系统研究了波长定位误差影响滤波结果准确性的规律性，提出了改善波长定位精度的途径。对于谱线重叠干扰的校正，波长定位精度一般应优于０．１ｐｍ；利用新息序列零均白噪音特性建立指示函数优化扫描光谱峰位，大大提高了波长定位精度，保证了滤波结果的准确性。     

电感耦合等离子体原子发射光谱分析信息系统的开发：I.系统分析

根据电感耦合等离子体原子发射光谱（ＩＣＰ－ＡＥＳ）分析的实际需要，开发了一种ＩＣＰ－ＡＥＳ分析信息系统。该系统包括谱线管理系统、识别干扰程序系统、校准及干扰校正系统、帮助系统等子系统。本文将讨论系统分析。系统设计和系统评价将在另文中讨论。     

发射光谱照相干板测光与微计算机的联机应用——Ⅱ.微计算机控制自动采样及其数据的自动处理

发射光谱分析中,直到目前应用最普遍、最广泛的仍为摄谱法,因为这种方法灵活,信息量大,适应性强,可用于各种复杂样品的测定。摄谱法的缺点是测光及数据处理比较烦琐,因而摄谱法中干板的自动测光及数据的计算机处理普遍受到重视。一些年来,应用计算机控制测微光度计进行干板测量的自动化系统已有一些文章发表,但是,大都是应用小型机或大、中型机新近,国内有人进行以小型机控制     

高纯氧化镥中十四种稀土杂质的ICP-AES测定

镥是稀土元素中较有用,并且最昂贵的元素之一。我们研究了测定99.99％高纯氧化镥中14种稀土杂质的方法。实验部分试剂:氧化镥纯度为99.995％以上,其它14种稀土氧化物纯度均为99.95％以上,850℃在马福炉中灼烧之后,配成酸度为5％盐酸稀土标准溶液。仪器及工作条件:美国HFL-5000D型射频发生器,40.68MHz。民主德国PGS-2型两米平面光栅摄谱仪,光栅刻线651条/mm,用一级光谱。用改装的Goulden和Anthony的加热去溶装置,加热温度300℃。