首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   55篇
  免费   14篇
  国内免费   24篇
化学   53篇
力学   1篇
综合类   1篇
数学   2篇
物理学   36篇
  2023年   2篇
  2022年   2篇
  2021年   1篇
  2020年   1篇
  2019年   5篇
  2018年   4篇
  2017年   2篇
  2016年   1篇
  2015年   5篇
  2014年   4篇
  2013年   10篇
  2012年   6篇
  2011年   11篇
  2010年   10篇
  2009年   12篇
  2008年   4篇
  2007年   4篇
  2004年   1篇
  2003年   1篇
  1999年   1篇
  1994年   1篇
  1993年   4篇
  1987年   1篇
排序方式: 共有93条查询结果,搜索用时 15 毫秒
21.
王笑  潘安练  刘丹  白永强  张朝晖  邹炳锁  朱星 《物理学报》2007,56(11):6352-6357
通过热蒸发方法成功制备出CdS0.65Se0.35纳米带,得到的纳米带表面光滑,宽度厚度均一,表现出很高的结晶质量.使用近场光学显微镜对纳米带室温下的带边荧光波导和光致荧光近场光谱进行研究.发现CdS0.65Se0.35纳米带呈现良好的光波导的特性;同时通过近场光学显微镜得到的空间分辨光谱,发现随着传播距离的增大,纳米带的光致荧光光谱有持续的红移现象.这种光谱红移现象是带间跃迁过程中带尾态的吸收效应引起的,并作了光谱带尾态吸收的理论模拟与实验结果进行比较.光波导传输过程中光谱的变化反映了信息在整个传导过程中的情况,体现了信息传递过程中的稳定性和有效性.三元合金材料CdS0.65Se0.35纳米带的波导和光谱性质研究,对于其他组分可调的三元合金纳米结构的制备和研究,及发展新型的纳米功能器件有重要意义.  相似文献   
22.
建立了固相萃取-超高效液相色谱(UPLC)同时测定乳制品中苹果酸、酒石酸、乳酸、乙酸、柠檬酸、富马酸等6种有机酸的分析方法。样品用体积分数1%氨水溶液提取,调节至中性后经MAX柱净化,用Acquity UPLC HSS T3色谱柱(2.1 mm×100 mm,1.8μm)分离,以乙腈和0.02 mol/L KH2PO4缓冲溶液(pH 2.0)作为流动相进行梯度洗脱,二极管阵列检测器检测。6种有机酸在其相应范围内(0.05~5000 mg/L)线性关系良好(r2≥0.999),方法的定量限(信噪比为10)为0.05~25.0 mg/kg,3个不同水平的添加浓度回收率为80.1%~103.2%,相对标准偏差(n=8)在1.9%~11%之间。方法适合于乳制品中6种有机酸的同时检测。  相似文献   
23.
刘立新  张朝晖 《数学学报》2007,50(5):1141-115
设S为至少有一个穿孔点α的Riemann曲面.对于曲线α■S,可以定义关于α■S的Dehn twist t_α.设H是S的映射类群的子群,H中的元素保持α不动,并且投影为S=S∪{α}上平凡的映射类变换.定义t_α是关于α■S的Dehn twist.本文考虑关于X(S上的映射类变换)的方程(t_α■θ)~n■X=圮,其中θ∈H是任意给定的.由于(t_αoθ)~n和t_α~n都投影为关于简单闭曲线■的Dehn twist t_■.所以上述方程在H中的解是存在的.对充分大的n,我们给出上述方程有形如X=θ~(n)的解的充要条件.此外,对任给的θ∈H,刻画了子空间H′■H,这里方程的解X=X_n最终要属于H′.最后,考虑简单映射类变换的某些复合映射,并给出了相应的刻画:它们在沿S上的某些简单曲线做剖分后所得的穿孔pant上是不可约的.  相似文献   
24.
高原  柳占立  赵雪川  张朝晖  庄茁  由小川 《物理学报》2011,60(9):96103-096103
位错的攀移运动对高温下晶体材料的塑性行为有重要影响,为了能够有效揭示攀移的物理本质及其对塑性行为的作用,本文基于点缺陷扩散理论,通过将体扩散和管扩散机理的共同作用与三维离散位错动力学耦合,建立了适用条件更广的位错攀移模型. 利用此模型我们模拟了单个及多个棱柱型位错环的收缩变形过程,发现影响位错攀移速率的决定因素不是传统理论认为的机械攀移力,而是位错周围(体扩散)及位错段上(管扩散)的空位浓度梯度. 该模型也能够完全重现棱柱型位错环群的粗化过程中不同位错环半径及晶体内平均空位浓度随时间变化的三个阶段. 关键词: 位错攀移 点缺陷扩散理论 位错动力学 棱柱位错环  相似文献   
25.
赵华波  王亮  张朝晖 《物理学报》2011,60(8):87302-087302
利用物理蒸发技术,在半导体性的碳纳米管上沉积钯金属,利用导电原子力显微镜检测钯吸附对碳纳米管电输运的影响.结果表明:沉积的钯在碳纳米管上形成纳米颗粒,随着钯颗粒密度的增加,半导体性碳纳米管逐渐向金属性转变.利用第一性原理计算了吸附有钯原子的半导体性单壁碳纳米管的能带结构.研究发现,钯的覆盖率越高,其禁带宽度越窄,直至为零,定性说明了实验结果的合理性. 关键词: 单壁碳纳米管 钯纳米颗粒 导电原子力显微镜 第一性原理计算  相似文献   
26.
镓离子配合物印迹聚合物的研制及吸附性能研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
以8-羟基喹啉镓(Gaq3)为模板分子,丙烯酰胺为功能单体,二甲基丙烯酸乙二醇酯为交联剂,偶氮二异丁腈为引发剂,由沉淀聚合法在三氯甲烷和甲醇(体积比3:2)的混合溶剂中制备镓离子印迹聚合物.采用红外光谱和热重分析对其进行表征;采用等温平衡吸附实验和Langmuir吸附模型分析研究其吸附性能.以其作为固相萃取填料,应用于...  相似文献   
27.
利用太赫兹时域光谱技术(THz-TDS)提取物质在太赫兹波段的吸收谱是太赫兹应用的一个重要方面。THz-TDS实验系统中的被测样片一般是多种成份的微粒与稀释剂(PE)按一定摩尔浓度混合研磨后压制而成的薄圆片。一般认为,吸收谱中出现的随频率缓慢上升的基线是源于样品颗粒对THz波的散射。该基线对准确获取吸收谱中的特征吸收峰的峰高和峰形信息产生了影响,故为了进一步对吸收谱实现准确的定量分析,应设法移除基线,消除样品颗粒散射对吸收谱的影响,使吸收谱中的特征吸收峰更准确的体现被测物质在太赫兹频段内的吸收特性。对基线产生的原因进行了分析,对近年来出现的散射处理方法进行了综述,为了验证文献中去除散射方法的合理性,选取三种氨基酸进行实验,对比了去除散射影响前后氨基酸的摩尔浓度计算精度,结果表明,去除散射影响后部分氨基酸的摩尔浓度计算精度得到了提高,最后综合实验结果提出了THz吸收谱中去除散射影响需要进一步研究的方向。  相似文献   
28.
高洋洋  张朝晖  刘鑫  卢晓宇  严华  何悦  杨大进  云环 《色谱》2014,32(5):524-528
建立了一种超高效液相色谱-串联质谱(UPLC-MS/MS)测定多种基质(鸡肉、鱼肉、鸡肝、鸡蛋和牛奶)中三甲氧苄氨嘧啶、二甲氧苄胺嘧啶和二甲氧甲基苄胺嘧啶的分析方法。样品用甲酸-乙腈(1:9,v/v)溶液提取,正己烷除脂净化,Acquity UPLC BEH C18柱(50 mm×2.1 mm,1.7 μm)分离,以甲醇和5 mmol/L醋酸铵(含0.1%(v/v)甲酸)作为流动相进行梯度洗脱,电喷雾正离子(ESI+)模式电离,多反应监测(MRM)模式检测。考察了3种提取溶液的提取效率,优化了净化条件和浓缩条件,并对流动相、柱温和固相萃取柱进行了优化。结果表明:三甲氧苄氨嘧啶、二甲氧苄胺嘧啶和二甲氧甲基苄胺嘧啶在1.25~30.0 μg/L范围内线性关系良好(r≥0.99)。方法的定量限(S/N=10)为5.0 μg/kg,在5.0、10.0、20.0 μg/kg的添加浓度的回收率为61.2%~108.5%,相对标准偏差(RSD,n=6)为1.1%~9.8%。该方法快速、灵敏、准确,适合于多种基质中磺胺增效剂的测定。  相似文献   
29.
利用太赫兹时域谱仪THz-TDS测试样品并计算太赫兹吸收谱的形态和幅度,是太赫兹定性、定量分析的主要途径。在实验中我们发现,谱的形态和幅度不仅与样品吸收特性有关, 而且与计算中所选取的太赫兹时域脉冲的长度密切相关。太赫兹波在片状样品前后表面的多次反射波是造成这个问题的主要原因。太赫兹时域脉冲分为直接载有样品信息的本质段、低信噪比的噪声段和信息重叠的回波段。通过分析太赫兹脉冲的产生机理及脉冲幅度与衰减过程的关系,给出一个半理论半经验的本质段长度截取模型,由此确定进一步计算太赫兹吸收谱的最佳长度。谷氨酰胺(Gln)、组氨酸(His)和胱氨酸(Cys)三种氨基酸样品的实验表明, 该文截点位置截取方法的计算结果是稳定有效的。  相似文献   
30.
超声提取-高效液相色谱法测定粗榧中高三尖杉酯碱   总被引:1,自引:0,他引:1  
用乙醇(每克样品加15 mL)超声提取40 min使粗榧中高三尖杉酯碱溶出.每一样品先后提取3次,所得提取液经合并,减压蒸发并定容为10.0 mL供高效液相色谱分析用.在色谱测定中,采用Diamonsil C18色谱柱作为固定相,采用0.08 mol·L-1乙酸铵溶液和甲醇以55比45的体积比混合的溶液作为流动相.紫外检测的波长为291 nm,对方法的精密度和回收率分别作了试验,测得其相对标准偏差(n=5)为8.08%.  相似文献   
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号