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NBU*t0寿命分布中新元件的寿命随机地大于旧的年龄不小于t0的元件的剩余寿命,这为更广泛地模拟元件的老化和劣化现象提供了丰富的内容。本文首先对那些t0年龄点之后剩余寿命随机等于新元件寿命的元件的结构加以刻画,然后建立了一个非参数检验方法以区分这种随机等价性和t0年龄点后的严格的NBU性,并给出了针对一个NBU*t0但非NBU的寿命分布的例子的数值模拟结果。 相似文献