全文获取类型
收费全文 | 12144篇 |
免费 | 704篇 |
国内免费 | 1668篇 |
专业分类
化学 | 12108篇 |
晶体学 | 145篇 |
力学 | 154篇 |
综合类 | 161篇 |
数学 | 17篇 |
物理学 | 1931篇 |
出版年
2024年 | 84篇 |
2023年 | 381篇 |
2022年 | 405篇 |
2021年 | 451篇 |
2020年 | 332篇 |
2019年 | 508篇 |
2018年 | 301篇 |
2017年 | 436篇 |
2016年 | 417篇 |
2015年 | 443篇 |
2014年 | 890篇 |
2013年 | 728篇 |
2012年 | 721篇 |
2011年 | 750篇 |
2010年 | 731篇 |
2009年 | 771篇 |
2008年 | 693篇 |
2007年 | 639篇 |
2006年 | 581篇 |
2005年 | 527篇 |
2004年 | 483篇 |
2003年 | 473篇 |
2002年 | 345篇 |
2001年 | 348篇 |
2000年 | 276篇 |
1999年 | 217篇 |
1998年 | 200篇 |
1997年 | 230篇 |
1996年 | 228篇 |
1995年 | 207篇 |
1994年 | 198篇 |
1993年 | 141篇 |
1992年 | 111篇 |
1991年 | 92篇 |
1990年 | 58篇 |
1989年 | 94篇 |
1988年 | 12篇 |
1987年 | 6篇 |
1986年 | 1篇 |
1985年 | 1篇 |
1984年 | 2篇 |
1983年 | 2篇 |
1959年 | 2篇 |
排序方式: 共有10000条查询结果,搜索用时 500 毫秒
31.
A Novel Contactless Method for Characterization of Semiconductors:Surface Electron Bean Induced Voltage in Scanning Electron Microscopy 下载免费PDF全文
We present a novel contactless and nondestructive method called the surface electron beam induced voltage (SEBIV) method for characterizing semiconductor materials and devices.The SEBIV method is based on the detection of the surface potential induced by electron beams of scanning electron microscopy (SEM).The core part of the SEBIV detection set-up is a circular metal detector placed above the sample surface.The capacitance between the circular detector and whole surface of the sample is estimated to be about 0.64pf.It is large enough for the detection of the induced surface potential.The irradiation mode of electron beam (e-beam) influences the signal generation When the e-beam irradiates on the surface of semiconductors continuously,a differential signal is obtained.The real distribution of surface potentials can be obtained when a pulsed e-beam with a fixed frequency is used for irradiation and a lock-in amplifier is employed for detection.The polarity of induced potential depends on the structure of potential barriers and surface states of samples.The contrast of SEBIV images in SEM changes with irradiation time and e-beam intensity. 相似文献
32.
33.
34.
本文综述了反射电子显微术(REM)和反射电子能量损失谱(REELS)在表面科学中的应用。较详细地给出了用这些方法研究表面原子结构、化学成份和电子态的基本实验和理论,指出了发展这一学科对表面研究的重要性。 相似文献
35.
纳米级银粉,以其纳米尺寸所赋予的独特性能,可广泛应用于催化剂材料、电池电极材料、低温材料和导电浆料,探索纳米银粉的制备方法具有重要的意义。2004年,通过超声化学法,在乙二醇介质中、以硝酸银为原料制备出了有机包覆的纳米银。产物用X射线光电子能谱仪(XPS)、透射电子显微镜(TEM)和红外光谱等进行了检测。 相似文献
36.
37.
38.
商朋见 《数学物理学报(A辑)》1994,(4)
本文建立了平面波ε-ikx(波数k>0)通过势v(x)=vnδ(x-xn),N→∞时透射振幅和反射振幅的速推公式;给出系统为绝缘体的充要条件;最后,作为应用,对一类线性递归链,研究了系统的导通性及绝缘性. 相似文献
39.
40.
硅磷酸铝分子筛SAPO—34稳定性的研究 总被引:4,自引:0,他引:4
利用差热分析(DTA)、原位XRD技术研究了SAPO-34分子筛原粉样品的晶体结构在模板剂烧除过程以及环境气氛中的变化情况。采用1073K下的高温焙烧和水蒸汽处理以及甲醇转化试验跟踪考察了该分子筛在结构和催化性能上的稳定性。 相似文献