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991.
Thickness Determination for a Two-Layered Composite of a Film and a Plate by Low-Frequency Ultrasound 总被引:4,自引:0,他引:4 下载免费PDF全文
We present an ultrasonic method for determining the thickness of a composite consisting of a soft thin film attached to a hard plate substrate, by resonance spectra in the low frequency region, The interrogating waves can be incident only to the two-layered composite from the substrate side. The reflection spectra are obtained by FFT analysis of the compressive pulsed echoes from the composite, and the thicknesses of the film and the substrate are simultaneously inversed by the simulated annealing method from the resonant frequencies knowing other acoustical parameters in prior. The sensitivity of the method to individual thickness, its convergence and stability against experimental noises are studied, Experiment with interrogating wavelength 4 times larger than the film thickness in a sample of a polymer film (0.054mm) on an aluminium plate (6.24mm) verifies the validity of the method. The average relative errors in the measurement of the thicknesses of the film and the substrate are found to be -4.1% and -0.62%, respectively. 相似文献
992.
Cr-Nb nano-multilayered films with various modulation wavelengths A are prepared by e-gun evaporation and their mechanical properties are investigated. Cr and Nb both have bcc structures with large differences in lattice constants and Young's modulus, which are supposed to favour modulus enhancement. Nevertheless, nano-indention measurements show no enhancement for the modulus and a slight decrease for the hardness with decreasing A down to 5 nm. This is mainly due to counter-contribution to modulus from adjacent layers subjected to reverse strains, in agreement with recent theoretical study, while the decrease of hardness arises from grain boundary sliding. Interestingly, at A = 3 nm, the hardness of the film has an increase of 44% relative to the value of a rule of mixture, owing to the emergence of a new phase for reconciling the structure difference at the interfaces. 相似文献
993.
Hydrogen Passivation Effect on Enhanced Luminescence from Nanocrystalline Si/SiO2 Multilayers 下载免费PDF全文
Nanocrystalline Si/SiO2 multilayers are prepared by thermally annealing amorphous Si/SiO2 stacked structures. The photoluminescence intensity is obviously enhanced after hydrogen passivation at various temperatures. It is suggested that the hydrogen trapping and detrapping processes at different temperatures strongly influence the passivation effect. Direct experimental evidence is given by electron spin resonance spectra that hydrogen effectively reduces the nonradiative defect states existing in the Si nanocrystas/SiO2 system which enhances the radiative recombination probability. The luminescence characteristic shows its stability after hydrogen passivation even after aging eight months. 相似文献
994.
基于界面陷阱形成的氢离子运动两步模型和反应过程的热力学平衡假设,推导了金属-氧化物-半导体-场效应晶体管(MOSFET)经历电离辐照后氧化层空穴俘获与界面陷阱形成间关系的表达式.利用初始1/f噪声功率谱幅值与氧化层空穴俘获之间的联系,建立了辐照前的1/f噪声幅值与辐照诱生界面陷阱数量之间的半经验公式,并通过实验予以验证.研究结果表明,由于辐照诱生的氧化层内陷阱通过与分子氢作用而直接参与到界面陷阱的建立过程中,从而使界面陷阱生成数量正比于这种陷阱增加的数量,因此辐照前的1/f噪声功率谱幅值正比于辐照诱生的界面陷阱数量.研究结果为1/f噪声用作MOSFET辐照损伤机理研究的新工具,对其抗辐照性能进行无损评估提供了理论依据与数学模型. 相似文献
995.
996.
K9和石英玻璃基片上Au膜真空紫外反射特性研究 总被引:3,自引:0,他引:3
采用离子束溅射法,分别在经过不同前期清洗方法处理过的K9及石英玻璃光学基片上,选择不同的镀膜参量,镀制了多种厚度的Au膜。对镀制的Au膜在真空紫外波段较宽波长范围内的反射率进行了连续测量。测试结果表明:辅助离子源的使用方式、Au膜厚度对反射镜的反射率有重大影响。基片材料、镀前基片表面清洗工艺等对反射率也有一定影响。采用镀前离子轰击,可显著提高Au膜反射率及膜与基底的粘合力;获得最高反射率时的最佳膜厚与基片材料、镀膜工艺密切相关。对经过离子清洗的石英基片,膜厚在30 nm左右反射率最高;比较而言,石英基片可获得更高的反射率;辅助离子源的使用还显著影响获得最高反射率时对应的最佳膜厚值,且对K9基片的影响更显著。 相似文献
997.
单分子荧光检测在生命科学中的应用 总被引:2,自引:0,他引:2
文章对单分子荧光检测在分子马达、离子通道、信号分子、蛋白折叠、蛋白构象变化动力学、酶活性反应、细胞过程实时观察等生命科学领域中的应用进行了介绍.这些研究结果表明,单分子荧光检测在研究生物大分子的活动规律与机制方面不但有着无法替代的优越性,而且有着广阔的发展空间. 相似文献
998.
为探讨膨胀石墨作为3 mm波干扰材料的消光、散射特性及其影响因素, 基于有限长度、有限电导率圆柱状导体的电磁散射, 利用矩量法建立了膨胀石墨的消光、散射、吸收及后向散射截面(雷达散射截面RCS)的计算式. 运用Mathematica编程计算并分析了膨胀石墨长度、半径、电导率、磁导率等因素与膨胀石墨消光、散射、吸收截面及RCS的关系. 结果表明: 当膨胀石墨的长度为1.5 mm、半径为0.05 mm时, 具有较好的消光、散射效果; 适当增大膨胀石墨的电导率、磁导率, 有利于提高其消光、散射能力. 本研究为探索增强膨胀石墨干扰3 mm波效果的技术途径提供了有价值的参考.
关键词:
膨胀石墨
石墨层间化合物
消光截面
矩量法 相似文献
999.
1000.
<正>An optical fiber evanescent wave methane gas sensor based on core diameter mismatch is reported.The sensor consists of a multimode fiber in which a short section of standard single-mode fiber,coated with the inclusion of cryptophane molecules E in a transparent polysiloxane film,is inserted.The sensing principle is analyzed by optical waveguide theory.For different sensing film thicknesses and interaction lengths,the sensor signal is investigated within the methane concentration range of 0-14.5%(v/v).It is shown that the sensor signal with the thickness of 5μm and the interaction length of 3 mm strengthens linearly with the increasing concentration of methane,with a slope of 0.0186.The best detection limit of the sensor for methane is 2.2%(v/v) with a response time of 90 s.This sensor is suitable for the detection of methane concentration below the critical value of 5%. 相似文献