次弱ГN—环对有限生成强诣零根的差环

本文定义了次弱Г_N-环,证明了若次弱Г_N一环M的强诣零根N是有限生成的,则M/N一定是强诣零半单的.并且.如果M存在强幂零根I,则N=I.     

液-液萃取体系界面特性的研究——Ⅱ.HEH(EHP)在水和不同稀释剂体系中的界面性质

通过对界面吸附特性参数的测定,推断HEH(EHP)以单分子状态吸附于液-液界面。吸附能力的强弱与稀释剂性质及温度有关。两液相极性差别越大,界面吸附能力越强。温度越高,吸附能力越弱。本文还讨论了HEH(EHP)的界面吸附与其萃取性能、相间分配等关系。     

Ni005A自动安平水准仪测微成像系统故障分析与调整

分析了Ni005A自动安平水准仪测微成像系统的结构原理,介绍了此类仪器的测微光学系统常见故障判断与调整方法,提出了应用一小凸透镜和一块毛面白纸条对测微成像系统进行逐段检查的快速检修方法.     

论WeakerГN—环的谐零根

本文旨在系统阐述ＷｅａｋｅｒГＮ－环的五个谐零根,它们分别是：强谐零根Ｎｓ,拟强谐零根ＮＱｓ,谐零根Ｎ, 谐零ＮＱ以及Ｂ－谐零根ＮＢ,最后还证明了五个谐零根之间的关系。     

双显色体系-双波长分光光度法研究

本文提出了一种新的光度分析法-双显色体系-双波长分光光度法,其波长对的组合为两个完全独立的显色体系.通过选择适当的R,L体系,可使该法有效地排除干扰,提高测定灵敏度.本文对提出的方法进行了理论推导和实验验证.     

双显色双波长分光光度法研究——铌和钽的高灵敏同时测定

本文选择SAF和5Br-PADAP两个显色体系构成显色体系对,建立双显色双波长分光光度法。可不经分离,同时高灵敏地测定铌和钽,应用在合金钢分析中获得满意的结果。     

四元域上最优局部可修复码的分类

近年来,为了提高分布式存储系统的容错性和可靠性,编码学家们引入了几类新的编码方案,其中局部可修复码(locally repairable codes,LRC)起到了重要的作用.对于一个线性码,若它的一个码字符号能通过其他至多r个码字符号修复,则称其具有局部性参数r.码长为n、维数为k、局部性参数为r的LRC((n,k,r)-LRC),其极小距离d满足Singleton型界d≤n-k-[k/r]+2.自LRC被提出以来,有许多工作研究小域上达到Singleton型界的码类.本文从码的校验矩阵角度出发,利用组合设计和有限几何的工具,研究了达到Singleton型界的最优四元LRC.本文证明了在四元域上共有27类最优的LRC,并且给出了这些最优码的构造.不仅如此,利用有限几何工具,本文还引入了判断最优LRC存在的新方法.