介孔SiO2的合成及其吸湿性能研究

本文在硫酸介质中,采用溶胶-凝胶法制备多孔吸附剂介孔SiO₂,通过透射电了显微镜（TEM）、X射线光电子能谱（XPS）、N₂吸附脱附对SiO₂的结构进行分析,用动态水蒸气吸附分析仪研究SiO₂对水蒸气的吸附和再生温度。结果表明制备的SiO₂比表面积为607.3 m²·g^,平均孔径为4.3 nm,在极低（≤10%）和高相对湿度下对水蒸气具有高的吸附量,360 K即可再生,再生性能好。     

氢原子光谱相对强度的解析计算

相对强度是光谱的一个重要宏观物理量，研究氢原子光谱的相对强度分布可以加深对量子跃迁的认识。本应用量子力学知识对氢原子光谱的相对强度分布给予了理论解释，并计算了赖曼系、巴耳末系头三条谱线强度之比。     

微波化学气相沉积中气压对金刚石薄膜生长速率和质量的影响

研究了微波化学气相沉积中沉积气压对金刚石薄膜生长速率和质量的影响.研究表明，金刚石薄膜的生长速率随沉积气压的提高而增大，生长速率与沉积气压为线性关系.在高沉积气压下生长的金刚石薄膜晶形完整，拉曼谱测量可得到锐利的金刚石相的峰，但电压-电流测量表明，随着制备时沉积气压的提高，金刚石薄膜的暗电流增大，膜的电学质量下降. 关键词： 金刚石薄膜 生长速率 沉积气压     

以陶瓷纤维为基材的硅胶吸附材料的制备与性能

以陶瓷纤维纸为基材，经水玻璃浸泡，絮凝剂沉积，盐酸调节pH值得到陶瓷纤维基硅胶吸附材料：探讨水玻璃浓度、絮凝剂浓度，盐酸浓度等条件对硅胶吸附剂吸附性能的影响：采用扫描电镜(SEM)，多孔介质孔隙分析仪揭示吸附材料的表面形貌、比表面积及孔径大小。实验结果显示：当水玻璃浓度为26．67wt%，絮凝剂浓度为15wt％，盐酸浓度为0．5mol／L时，吸附剂具有较好的吸附性能：硅胶能较好分散在纤维表面及其空隙中，BET比表面积为347．4m^2／g，总孔容为0．20295cm^2／g，其中，微孔所占比例为50．54％，平均孔径为，微孔0．4939nm，中孔3．907nm。     

纳米零价铁富集水溶液中铀的表面化学及应用展望

由于铀矿采冶、核能利用等类活动的影响, 铀引起的水体污染问题日益严重. 纳米零价铁(nanoscale zero-valent iron, nZVI)及其复合材料可高效富集水溶液中低浓度的铀, 在放射性废水的处理与铀的资源回收方面具有巨大的应用潜力. 但是, 不同研究对nZVI分离铀的机理和性能尚未形成一致的解释. 因此, 本综述归纳了nZVI分离铀的研究进展, 概括了溶液及固相反应机理(如吸附作用、还原作用、沉淀作用), 重点分析了水质因素(如pH、U(VI)浓度、阳离子、阴离子、溶解氧)的影响机制. 后续研究可注重分析铀废水中nZVI的结构转化规律及水质因素的协同作用对nZVI固定铀的机理、性能的影响; 并基于放射性废水的水质或水处理工艺的特征, 优化nZVI材料结构且评估其处理放射性废水的长期稳定性和生态毒性; 确定nZVI固定铀的性能与水质组分及水处理工艺运行参数的数学相关性, 建立监测和调控工艺的方法.     

铁系催化剂催化降冰片烯与丙烯酸甲酯共聚合

研究了Fe(acac)3-Al(i-Bu)3(acac=乙酰丙酮)催化降冰片烯(NB)与丙烯酸甲酯(MA)共聚反应条件影响、第三组份影响及催化剂铁铝比影响.并用核磁共振、红外光谱和元素分析方法研究了共聚物的组成,用热分析方法研究了共聚物的分解温度,并用电镜分析了共聚物的膜结构.结果表明,铁系催化剂在温和的反应条件下有较好的催化性能,并可获得能够形成有序多孔膜的共聚物.     

螺旋测微装置空程差的分析

在教学和科研中,螺旋测微装置是一种比较常见的实验仪器。在螺旋测微装置中,长度的精确测量是通过鼓轮的转动引起自身相对螺杆的微小移动,但螺杆的外螺纹和鼓轮的内螺纹之间有空隙。若不正确使用,这个空隙会给实验结果带来较大的误差,即空程差。本论文研究常见的螺旋测微装置,分析怎样避免或消除空程差,提高实验测量精度。     

薄膜干涉中半波损失的"例外

利用相位变化关系详细分析了薄膜处在上下界面不同的介质中时,两界面反射光有无半波损失的各种情况,得出了两界面性质相反时应有半波损失的情况下,却存在无半波损失的例外的结论.     

站在新世纪的门槛上谈物理学

 物理学是一门研究自然界物质运动变化规律的科学。在过去的2000多年里,物理学不仅带动了数学、化学、医学、生物学等自然科学的发展,而对哲学、社会学和经济学也产生了极其深远的影响。物理学的每一次大发展都引起了一场新技术革命,每一次技术革命都产生了一场社会大变革,使人类文明得到一次飞跃性的进步。     

薄膜干涉中半波损失的"例外"的实验验证

利用自制装置形成空气-玻璃-水膜和空气-玻璃-空气膜，通过比较两种膜的半波损失照片，验证了文献[3]中所述的薄膜干涉中半波损失的“例外”情况．