由两道高考题谈一个基本函数的应用

1997年高考数学理科试圆（22）、（24）．分别以实际应用题及函数与方程、不等式为载体，综合考查学生应用数学知识、思想和方法解决实际问题的能对租代数推理证明的能力．我们通过这两道试题解决过程的比较完析自研究发现；它们以一个皇本函国侵型y＝mn十五（其申n、。是常出百m＞o，n＞0）为肖复．从该围数的住质出发．能使问团赢得闻单、直叨．1四位y。mx十万（m、n为常饮且m＞0．nMO）的主要性质面数y一。x．十号（m、。为常数目m＞O，。M0）是中学教学申常见函数2一，有告事不动普函数同样广泛的应用．这里，我们从研究事本拥着困效…     

50°视场角投影式头盔光学系统设计及逆反射屏研究

设计了一款适于医疗培训用投影式头盔物镜系统，出瞳直径8mm，视场50°，能够满足对角0．9英寸微显示器对超高分辨SXGA模式的显示要求．其结构紧凑，口径10mm，长度12mm，重量仅有5g．本物镜系统场曲仅0．35D，畸变仅0．64％．为考察本投影式头盔系统的成像特性，研究了不同“逆反射材料”的特性．实验得到高强级逆反射材料在±40°视场范围内反射光强无明显变化，适合做为投影屏幕材料．定量分析了逆反射屏放置位置对成像的影响．     

复合材料中的渐近均匀化方法

本文将非均质弹性体的渐近均匀化方法应用于复合材料的宏观与细观分析之中。该方法基于平均化的思想，将复合材料视作由周期性的细观结构所构成，其场变量依赖于宏观和细观两个尺度的坐标变量而变化。通过建立位移和应力的渐近表达式，推导出关于周期性基元的细观平衡方程和细观本构关系，并与有限元数值方法相结合，得到材料的宏观等效性能和细观应力分布。对典型算例的分析，反映出该方法的有效性及准确性。     

循环流化床返料系统固体颗粒微波多普勒测量

本文基于微波多普勒速度测量和电容层析成像浓度测量技术,研究循环流化床多分离器系统固体颗粒流量分配特性。其中微波多普勒测量系统主要由微波信号发射和接受天线、微波信号采集系统和分析软件组成.电容层析成像系统由电容传感器和电容采集模块构成。通过微波测量得到颗粒的平均速度,电容层析成像得到颗粒平均浓度分布,将上述两个参数结合,得到固体颗粒的流量。实验结果证实了电容和微波相结合对颗粒返料流率测量的可行性.     

纤维编织管增强型中空纤维膜研究

采用二维编织技术将聚丙烯腈(PAN)长丝编织成中空纤维编织管作为增强体,分别以聚丙烯腈(PAN)和聚偏氟乙烯(PVDF)为成膜聚合物,N,N-二甲基乙酰胺(DMAc)为溶剂,聚乙烯吡咯烷酮(PVP)为添加剂,调制铸膜液,采用同心圆挤出-涂覆法制备了PAN纤维编织管同质增强型PAN中空纤维膜和异质增强型PVDF中空纤维膜.研究表明,所得PAN纤维编织管增强型中空纤维膜断裂强度最大可超过75 MPa,在伸长率10%范围内,表面分离层与增强体之间界面结合良好;表面分离层具有类似于非对称膜的结构,铸膜液可浸入纤维编织管纤维空隙中,铸膜液浸入部分固化后未影响膜的通透性能;随成膜聚合物浓度增加,膜纯水通量减小,牛血清白蛋白(BSA)截留率增大;随添加剂PVP浓度增加,膜的纯水通量先增大后减小,在8 wt%左右达最大值,BSA截留率随PVP浓度增加而单调增加;同质增强型中空纤维膜界面结合程度优于异质增强型.     

随机截尾的Warner与Simmons模型

本文在随机截尾模型的基础上,为了提高回答者的合作程度,提出了两种改进的调查敏感性问题数量特征的随机化回答方法。     

"探究液体压强与哪些因素有关"教学设计

全日制义务教育《物理课程标准》主题二“运动和相互作用”中，对液体压强知识提出的教学要求是：“通过实验探究，学习压强的概念；能用压强公式进行简单计算；知道增大和减小压强的方法．”与过去的教学大纲相比，新课标降低了对知识层次的要求，强调学生通过实验探究学习压强的概念，对压强的概念没有终结性的要求．另外，新课标还强调了压强公式的应用和在实际问题中知道增大和减小压强的方法．这一要求上的变化，体现了要鼓励学生积极投入到探究知识、联系丰富多彩的生活和生产活动中去的教育理念．     

基于量子隐形传态的完全Bell基测量

完全区分4个Bell态是实现量子隐形传态过程的关键,目前线形光学的办法还不能对Bell态进行完全的测量.我们根据两光子量子隐形传态方案利用Mach-Zehnder干涉仪,通过高位希尔伯特空间中偏振与路径之间的纠缠实现了完全bell基测量.通过引入参考光的方法,达到干涉仪两臂相位的自动稳定;该方案成功应用于16 km自由空间量子隐形传态实验中.     

High resolution X-ray spherically bent crystal spectrometer for laser-produced plasma diagnostics

A new high spectral resolution crystal spectrometer is designed to measure very low emissive X-ray spectra of laser-produced plasma in 0.5-0.9 nm range. A large open aperture （30 ×20 （mm）） mica （002） spherically bent crystal with curvature radius R = 380 mm is used as dispersive and focusing element. The imaging plate is employed to obtain high spectral resolution with effective area of 30 × 80 （mm）. The long designed path of the X-ray spectrometer beam is 980 mm from the source to the detector via the crystal. Experiment is carried out at a 20-J laser facility. X-ray spectra in an absolute intensity scale is obtained from Al laserproduced plasmas created by laser energy of 6.78 J. Samples of spectra obtained with spectral resolution of up to E/△E - 1500 are presented. The results clearly show that the device is good to diagnose laser high-density plasmas.