一种测量CCD上像点精确位置的方法

本文介绍一种新的ＣＣＤ技术。同时结合光学技术、计算机采集系统，可以实现多个光点在ＣＣＤ上位置的精确测量。在硬件电路设计中，围绕８２５４计数器给出了电路原理图，并详细介绍了实现信号中点位置检测计数的方法。软件部分给出了程序框图。此外，我们已使用此方法实现了钢板表面平坦度的检测，相信它可以推广到其它应用领域。     

一种使用线阵型CCD实现高精度二维位置测量的方法

介绍了一种使用ＣＣＤ测量位置的方法。与其它ＣＣＤ位置测量系统不同，通过设计一个特殊的光学系统，实现了使用两个线阵型ＣＣＤ进行高精度二维位置坐标测量。文中对该光学系统进行了误差分析，证实该方法具有很高的测量精度。该二维位置测量方法具有一些突出的优点：系统响应速度快，可以对动态目标进行测量；测量精度高；制造成本低。上述特点使它在工业制造领域内有着广阔的应用前景。     

轨道振动的非接触测量

ＣＣＤ实时地非接触检测铁轨的振动情况是一种既方便又准确的测量方法。该方法能够测出轨道振动的幅度、频率、相位、加速度等参数。ＣＣＤ非接触测振系统由照明光源、成像系统、ＣＣＤ、检测逻辑接口电路及计算机软件构成。通过实际检测，它能够达到振幅测量精度为０．１ｍｍ，最大量程为１００ｍｍ，频率不低于２００Ｈｚ。该系统可扩展到用非接触方法测量各种机械振动、位移量和物体边沿检测等应用领域。     

CCD在测量运动物体瞬时位置中的应用

本文介绍了一种利用线阵ＣＣＤ实现测量飞行物体瞬时位置的原理和方法；对接口电路和数据采集系统进行了理论分析和实验研究，给出了用Ｃ语言编制的数据采集系统源程序；最后简要介绍了实验结果。     

焊接操作光学模拟训练系统研究

本文设计了一种模拟焊接操作的训练系统。它由激光准直系统、ＣＣＤ投影成像系统和焊接定位系统组成。该系统利用线阵ＣＣＤ确定焊枪距离焊口的高度，利用桥式电路确定焊枪水平方向移动的位置，实时描绘出焊枪在移动过程中高度随水平位置变化的曲线，模拟出焊接操作的实时情况。     

CCD直接细分光栅位移传感器的研究

介绍一种采用ＣＣＤ为测量元件的光栅位移传感器的设计方法。该方法利用ＣＣＤ分辨率高、像素均匀的特点,对光栅刻线的像的移动进行精确定位和直接数字化,改变了以往对莫尔条纹进行位相细分的方法。该方法将细分和数字化在测量信号处理流程中的位置前移到光电转换环节,大大简化了后续电路,同时细分数也有大幅度提高,可以方便地实现数千倍的细分。在数据拼接时采用绝对栅距累加的方法,减小了光栅刻线质量对测量精度的影响。整个系统可由计算机通过并行端口进行控制     

新型塑料导线直径在线测量系统

本文提出了一种用线阵ＣＣＤ非接触实时测量塑料导线直径的仪器，它有如下特点：（１）采用了对被测目标所发出的烟雾不敏感的光学系统，提高了测量精度；（２）采用工作于脉冲方式的大功率近红外ＬＥＤ做照明光源，其寿命比采用白炽灯作为光源大为增长，同时缩小了体积并有利于抑制可见光的干扰；（３）对电信号采用了两级滤波、直流恢复、自适应阈值二值化等处理技术；（４）采用定标的方法来消除目标位置移动的影响，提高了测量精度，降低了加工装配精度要求。现场使用证明，它能长期可靠地工作，总的测量误差小于±０．０２ｍｍ。     

多个CCD交汇测量系统的理论研究

本文介绍了采用多个线阵ＣＣＤ 组成交汇测量系统的基本原理,导出了测量坐标的计算公式,并利用有关的误差理论对该方法的测量精度进行了详细分析。研究结果表明,多个ＣＣＤ 交汇测量系统能够得到较高的目标捕获几率,同时还能有效地提高坐标测量精度。对大靶面、高速小目标物体的精密测量具有重要意义     

成像光谱的信息采集与数据处理

论述了成像光谱技术中的光学成像技术、光谱信息采集及探测器像点与光谱图像像点的定位技术,提出了一种精确确定ＣＣＤ面阵上像敏元与光谱图像像素对应关系的新方法。系统电路能够对视频信号进行处理,输出带有标志线的复合视频信号,同时精确测定标志脉冲的位置,以数据形式提供给计算机,通过计算机对图像及采集的数据的分析处理,从而确定图像像素和ＣＣＤ面阵上像敏元的对应关系。系统软件能方便的实现对电路的控制、数据采集、光谱图像的分析、显示绘制图像的ＲＧＢ值和灰度曲线,能稳定运行于Ｗｉｎｄｏｗｓ环境下,使用灵活方便     

线阵CCD光积分时间的智能控制技术及其应用

本文提出了一种新型线阵ＣＣＤ驱动电路的设计方法，可以在不改变系统工作主频的情况下，连续地改变ＣＣＤ的光积分时间，并且可通过计算机接口实现智能调整，此项技术已成功应用于热扎线材外径的线检测仪中，控制效果极其理想。     

基于液晶局部选通系统的硬件算法的研究

鉴于CCD相机在强光照射时会产生光晕,CCD敏感面像素之间互相影响,进而导致成像模糊不清,提出一种克服光晕现象的像质增强算法.利用HTPS(高温聚硅)液晶具有可实时控制各像素光透过率的特性,使液晶和主CCD由光纤光锥进行像素一对一耦合.用Cyclone II芯片作为图像处理单元,测光CCD采集图像信息,控制液晶改善图像质量.实验结果表明,该系统能够精确控制HTPS液晶上每个像素的透过率,使CCD相机能在强光下正常成像,其灰度分辨能力提高了1倍,从而提高了图像的清晰度.     

可编程CCD驱动器

本文介绍的可编程CCD驱动器是一种通用、小型化、性能稳定的线阵CCD驱动电路板。通过编程可以在同一块印刷电路板上实现对几种型号的线阵CCD、以及同一型号不同工作方式的CCD进行驱动。还可以同步驱动两种不同型号的CCD。     

高精度CCD室内立靶测试系统设计

针对室内靶道,设计了一种基于双线阵CCD图像采集的立靶密集度测试系统,论述了系统的工作原理和组成。提出了一种新的数学模型,有效地抑制了传统测试方法中对两个相机相对位置的精度要求,配合阵列LED背射主动光源,通过一体化靶架设计,提高了测试精度,极大地减少了系统布靶时间。实弹射击试验验证了系统的工作性能。结果表明,所研制的测试系统布靶快捷,在1m×1m测试范围内,立靶坐标偏差均方根小于1mm,能够实现连发测试。     

多光谱CCD相机配准的图像校正

通过分析线阵CCD的成像过程,对多光谱CCD相机成像的彩色图像合成方式进行了研究,提出了一种处理方法。通过将各谱段CCD的每个像元信号分别扩展成一个二维像素数组后再进行彩色合成,尝试了利用后期处理的方式校正多光谱相机的配准偏差,改善了相机彩色合成图像的质量。结果表明,这种对CCD信号进行处理的合成方式为空间遥感相机的研制提供了一种技术手段,既能减小配准偏差的影响,同时又能够在不改变相机性能的情况下改善相机输出彩色图像的质量。     

532 nm脉冲激光辐照CCD实验研究

 采用532 nm,10 ns的脉冲激光对面阵CCD进行辐照实验,对每一阶段的实验现象和电路层面的破坏机理进行了深入分析,根据实验现象,把脉冲激光对CCD的硬破坏分为3个阶段：第1阶段在低能量密度激光辐照下,被破坏的CCD局部出现无法恢复的白色盲点,但其它部分仍可正常成像;第2阶段CCD探测器受到激光辐照后,在光斑处的时钟线方向出现白色竖直亮线,亮线处无法正常成像且激光辐照撤去后无法恢复;第3阶段受高能量密度激光辐照后,CCD完全失效,无法恢复成像。针对CCD的饱和及恢复阶段,利用Matlab编码对分辨力靶板的成像数据进行处理,分析了激光辐照CCD对饱和像元数和对比度的影响。结果表明：当CCD受到激光辐照时,饱和像元数迅速增多,图像对比度迅速下降为零,激光脉冲消失后,整个CCD成像亮度下降,饱和像元数迅速下降为零,经过一段时间后CCD又恢复至线性工作状态,激光的能量密度越高,CCD恢复所需的时间就越长。研究还发现：当恢复时间超过0.6 s,CCD出现不可恢复的白色条带,严重影响成像质量。     

兆线元EBCCD微光探测系统

研发了一种兆线元EBCCD微光探测系统。该系统采用了俄罗斯生产的电子轰击CCD传感器,该传感器为倒像式静电聚焦系统,CCD为背照式1000×1000像元,传输模式为帧传输。为了获得高质量的图像,采用了多重滤波、自动去背景噪声以及帧叠加的方法。该系统能在10-5lx照度条件下得到较好的视频信号。该系统具有很高的灵敏度和分辨力,与ICCD微光摄像机作了比较。结果表明,电子轰击CCD微光成像系统性能较为理想。     

CCD多功能实验仪的设计与应用

介绍了CCD多功能实验仪的设计及其在大学物理实验中的应用．该实验仪主要由光路、硬件电路和软件3 部分组成．光路将待测物理量转化成相应的光信号,再经过硬件电路和软件的一系列处理转换成离散的电压信号,并在计算机上以图形方式显示结果．该测量系统可以完成多个与CCD光电技术相关的实验．     

多通道CCD摄像机的数据采集和图像显示

针对多通道CCD摄像机 ,提出了一种多线程数据实时存储的方法。利用多线程提高硬盘读写速度 ,实现高速、大容量CCD摄像机数据的硬盘实时存储 ,并利用定时中断将多通道信号定时分块存储入硬盘 ,存储的CCD摄像机数据被转换为图像文件加以显示。系统的CCD摄像机通道达到 5个 ,每个通道的数据率达到 10MBit/s。通过实验 ,验证了该方法的正确性和有效性