用光学信息量定量评价散乱射线对x射线照相底片的影响

文章介绍了用光学信息论的熵方法，在固定条件下，通过定量计算同一被摄物，在散乱射线不同的情况下，ｘ射线照相底片的信息量。而有效地评价散乱射线对底片象质影响。     

小波变换极大模图在射线检测中用于缺陷边缘提取

提出射线底片在C^a空间中的灰度信号模型，验证灰度信号不同组分的小波变换模值分辨分析尺度变化的规律。从射线底片的背景信号和高频噪声中提取了边缘信息。     

轻材料检验自动化评片技术

轻材料技术条件要求检验零件内部夹杂，检验手段采用X射线照相检验法，其中底片的评定是由检验人员在观片灯下人工评定，评定结果易受人为因素影响。为提高评片效率和可靠性，研发了—套轻材料自动评片软件系统。该系统基于Windows 2000平台，以VC为开发语言，结合图像处理技术对底片的多项评定指标进行评判。实践表明，该系统界面友好、易于操作，具有良好的评片效果。     

口腔全景X射线摄影

 X射线透视或照相得到的影像,实际是人体内部各个脏器和组织的立体形象在平面上的重叠投影,这就使得对比度不高或范围不大的病变组织难以分辨。断层摄影一直是人们追求的目标,获得身体中某一个层面的方法如图1所示,X射线管和照相底片都沿着身体轴线运动,但方向相反,而且它们的速度保持固定的比例。图中P点到X射线管的高度与它到照相底片的高度比值,正好等于X射线管与照相底片运动速率的比值。当X射线管在位置S1和S2时,P点在照相底片上的投影点P1和P2实际上是同一个点。     

X射线法测量的ICF靶丸参数的图像分析

 在ICF靶丸参数测量中，采用接触X射线显微辐射照相法获得靶核的X射线吸收底片图像，将该底片放置于显微镜下并用CCD获得了数字化图像。基于该数字化图像信息，编写了一套完整的计算机算法来计算靶参数。采用辐向平均法标定出靶中心，采用图像强度函数对半径的二阶微分来确定出靶层分界位置，计算精度约为0.2pixels。     

软X射线晶体谱仪

描述了用于激光等离子体软Ｘ射线光谱学研究长波晶体谱仪。用具有大晶格常数的晶体，极薄的滤片和对软Ｘ射线灵敏的底片，获得了波长达５．８ｎｍ的激光等离子体软件Ｘ射线光谱。同时还给出了实验测定了谱仪光谱分辨率。     

X射线及其医学应用

x射线即伦琴射线,俗称x光,在本质上是一种频率比紫外线更高的电磁波.1 X射线的性质 (1)它是肉眼看不见的一种射线,但可使某些化合物产生荧光或使照相底片感光. (2)它在电场或磁场中不发生偏转,能发生反射、折射、干涉、衍射等. (3)它具有穿透物质的本领,但对不同物质它的穿透本领不同.     

同步辐射X射线干涉的实验研究

介绍在北京同步辐射装置上进行的国内首次LLL型X射线干涉实验研究,在X光底片上观察到了Moire干涉条纹,为进一步利用X射线干涉技术实现纳米测量打下了初步基础.     

利用数值模拟测量闪光照相中的H-D曲线

H-D曲线表明了照射量与底片光学密度之间的关系，是定量提取客体信息的基础。尽管实验上提出了许多测量“屏-片”的H—D曲线的方法，但这些方法所采用的实验布局与实际照相环境存在一定的差异。第一，许多实验采用的光源是单能源（如^60Co），没有体现底片系统对不同X射线能量的响应特性；第二，实验装置与实际照相模型存在比较大的差异，由于光子能谱和角分布以及散射的影响，测量的H-D曲线往往很难用到实际照相中；第三，也是更重要的一点是目前测量高能X射线照射量的仪器的测量误差较大，     

光谱底片图像的计算机再现与处理

用Ｆｏｒｔｒａｎ语言编程，实现了光谱底片在计算机屏幕上的伪彩色及仿真光谱底片的多级灰度再现，实现了屏幕光标定位、数据的随时读取、图像旋转等功能。并可进一步作出光谱的等密度轮廓曲线和三维立体图形，大大提高了光谱底片数据处理的效率和精度。