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谈双“单电桥”测低电阻的两类方法 总被引:2,自引:2,他引:0
谈双“单电桥”测低电阻的两类方法李龙海(北京理工大学应用物理系,100081)物理实验中,人们常称惠斯登电桥为“单电桥”,认为其只适于测10Ω一108Ω之间的“中电阻”,至于欲测1Ω以下的“低电阻”,只能应用“双电桥”——开尔文电桥.其实不然,我们利... 相似文献
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电阻是集成电路中一个基本元件,测量电阻就显得非常重要,物理实验中电阻测量的方法较多,主要为指针式万用表法,伏安法,电桥法,电位差法。每种方法都有都有自己的优点和缺点,指针式万用表法和伏安法是最基本的方法,虽然测量电阻的系统误差较大,但是测量的方法和使用的仪器都很简单,是较为普遍的测量方法。电桥法是通过电桥工作原理制成的一种精度高,使用方便测量电阻的方法。测量电池的内阻,万用表法、伏安法、电桥法都不能实现,然而电位差计能精确测量电池的内阻。本文通过总结电阻测量的方法,有利于激发学生的学习兴趣,提高学生的综合实践能力。 相似文献
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介绍不平衡电桥法测量电池内阻装置的原理及设计,不平衡电桥法测量电池内阻利用电池本身的电动势在电一对对解点间产生的直流电压,在给定条件下不随另一对对角点间放电电流大小变化的特点构成的,测量装置不需在电桥上施加信号源,电桥的平衡指示信号取自对角点电压及等效电阻的变化成分。 相似文献
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Tsubasa Matsumoto Hiromitsu Kato Norio Tokuda Toshiharu Makino Masahiko Ogura Daisuke Takeuchi Hideyo Okushi Satoshi Yamasaki 《固体物理学:研究快报》2014,8(2):137-140
The contact resistance between heavily phosphorus doped n‐type (n+‐type) diamond (111) layers and graphite electrodes was investigated. To analyze the contact resistance properties in detail in the low‐voltage region, the transfer length method including nonlinear terms with a constant current was analyzed based on the double Schottky contact configuration. Using this method, we have revaluated the metal contact resistance reported previously. Using the graphite electrodes, the linearity of current‐voltage characteristics was improved. The contact resistance was reduced by a factor of ten compared to that of conventional Ti/Pt/Au electrodes. The graphite electrodes were formed directly by thermal annealing at 1300 °C for 10 min from an n+‐type diamond surface. (© 2014 WILEY‐VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim) 相似文献
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本针对自组双臂电桥实验中调节麻烦、实验时间长的缺陷,提出了首先找出检流计的外电阻在调节过程中,始终使检流计的外电阻接近于检流计的临界电阻的实验方法。该方法可减少实验时间,提高测量的准确度。 相似文献
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切伦科夫辐射“双成像法”测量电子束发射度 总被引:5,自引:0,他引:5
利用切伦科夫辐射,OTR或荧光靶等光学诊断方法进行发射度测量,国内外绝大部分实验是用CCD相机观测电子束打靶产生的光斑,变化四极透镜的磁场梯度,应用“三梯度法”计算出发射度.文中提出了一种新的“双成像法”测量方法,使切伦科夫辐射光通过一长焦距的消色差薄透镜,分别在焦平面和像平面获取图像.通过图像处理,前者可分析出电子束散角分布,后者可分析出电子束径向分布,从而直接得到均方根发射度.该方法对束流相空间和电荷密度分布无需假设,无需借助“三梯度法”,较其他常规测量方法具有实验装置更简便、测量精度更高和适用性更广等优点.文中给出了该测量方法对北京大学DC?SC光阴极注入器的发射度测量进行计算机模拟实验的结果和分析. 相似文献
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根据伏安法测量电阻的优点以及电压跟随器和差动放大器的特点,提出了在低电阻测量中能消除导线电阻和接触电阻影响的一种新方法。设计了完整的实验电路,经过实际测量证明了该方法是可行的。 相似文献