X射线荧光光谱法测定煤灰中18个痕量元素

本文研究X射线荧光光谱法直接测定煤灰中Nb、Zr、Y、Sr、Rb、Th、Pb、Mn、Zn、As、Ga、Cu、Ti、Ba、V、Cr、P和La18个痕量元素的方法。采用国家一级地球化学标准参考样GSD1－12，GSS1－8等作为标准，使用低压聚乙烯镶边垫底的粉末压片法制样，用3080E2型X射线荧光光谱仪对煤灰样品中多种痕量元素进行测量。方法灵敏、准确、快速、简便。     

超细粉末压片制样X射线荧光光谱测定碳酸岩样品中多种元素及CO_2

粉末压片X射线荧光光谱分析碳酸岩的误差主要来自粒度效应和矿物效应。为消除粒度效应影响,采用超细粉末压片制样准确测定了碳酸岩中的多种元素和CO2。使用德国FRITSCH行星式球磨机,碳化钨研磨介质将碳酸岩进行超细粉碎,为了克服团聚效应,采用了湿法研磨。随颗粒度的减小,样品表面形态更平整、光滑,康普顿散射效应减小。研究了粒度变化对各元素分析线强度的影响,通常荧光强度随粒度减小而增加。当多个组分的颗粒度减小时,S,Si,Mg的强度将增加,Ca,Al,Ti,K的强度将减小,这取决于各自的质量吸收系数。研究了粒度变化对矿物物相组成的影响。计算了各分析元素分析线的穿透厚度,当样品的粒度碎至元素分析线的穿透厚度以下时,荧光强度受粒度的影响减小。实验发现当样品碎至d95≤8μm时,基本消除了颗粒度效应影响,压片法制样,理论α系数、经验系数法结合校正基体效应,可准确测定碳酸岩样品中14个元素,方法的精密度大大改善,除Na2O外,RSD2%。C是超轻元素,荧光产额低且干扰严重。实验采用PX4人工多层膜晶体,粗准直器,X射线荧光光谱可定量测定碳酸岩中的CO2。试验发现C的测量强度随测量次数的增加而增加,且随放置时间的增加而增加(即使在干燥器中存放),因此建议使用新制的样片测定CO2。     

X射线荧光光谱法直接测定油页岩中微量元素

本文提出用微晶纤维素与GSD等国家一级系列标样按不同比例混合制备标准样品。油页岩样品不经前处理,直接粉末法压片,经验系数法校正元素间效应,直接测定油页岩中V、Co、Ni、Cr、Cu、Zn、Sr、Ba和Rb等元素的X射线荧光光谱法。样品分析结果与ICP-AES法分析结果基本一致,本法具有简单、准确、实用的特点。     

X射线荧光光谱法测定工业硅中铁、铝、钙

通过压片法制备样片,用X射线荧光光谱法测量工作硅中铁,铝,钙,探讨了样片制备条件,并通过加入粘接剂提高了样片牢固度,用经验系数法进行元素间增强和吸收校正,经对样品制备精密度及测量准确度分析,X射线荧光光谱法测量准确度和精密度能满足传统化学法要求。     

X射线荧光光谱法测定高纯石墨中的硫

采用X射线荧光光谱法测定出口高纯石墨中的硫，代替传统的化学分析方法。原样品粉末直接压片，标准样品采用国际焦炭样品和淀粉按比例混匀经研磨后压片，采用散射线背景校正法校正基体的影响，效果良好，简便易行。本方法的精与准确度均较好。     

X射线荧光光谱法测定多金属矿石中的铜和钼

采用粉末压片法制样,以经验a系数和散射线内标法校正元素谱线重叠干扰和基体效应,使用ZSX PrimusⅡ型X射线荧光光谱仪对多金属矿石样品中的Cu、Mo进行了快速测试.经国家一级标准物质验证,精密度好,准确度高;用不同方法进行验证,结果满意;经过不同实验室检验其结果符合DZ/T0130-2006规定的质量要求.     

X-射线荧光光谱测定硅酸盐中的主微量元素

本文介绍了四硼酸钾熔融,样品与熔剂比为1:5,熔成均匀、光洁的玻璃饼,用X射线荧光光谱测定主量和微量元素。微量元素有Cr,Ni,Co,V,Rb,Sr,Er,Ba,Sc,Y,La,Ce,Pb,Zn,Ga,Th和Nb。这些微量元素可灵敏地反应岩浆岩的形成过程,准确地测量这些元素是很有意义的。本文详细地介绍了X-射线荧光光谱测量这些元素所采用的背景扣除,谱线重迭校正,基体校正以及测量参数。列出了分析的结果并对此方法进行讨论。     

WD-XRF在新疆某地区化探样品上的应用

讨论了波长色散X射线荧光光谱法(WD-XRF)在地质样品分析中的测量条件、适用范围、分析方法的精密度和准确性.本法用经验系数法和散射线内标法校正基体效应,采用粉末压片法制取试样,对新疆某地区化探样品50种元素进行分析,提高了分析精度.重点研究Pb、Zn、Cu、Fe 4种成分.     

X射线荧光光谱中散射效应对荧光强度的贡献研究

采用理论计算和实验测定的方法研究了在纯元素样品、BaB二元样品及熔融片样品中三种散射效应对荧光强度的贡献(包括相干散射X射线激发的荧光强度、非相干散射X射线激发的荧光强度以及其他方向的一次荧光X射线被散射进探测方向的强度)大小及其变化规律。研究结果表明,三种散射效应对荧光强度的贡献大小与所研究元素原子特征谱线的能量及样品的基体有关,元素原子的特征谱线能量越高,散射效应对荧光强度的贡献越大;轻基体样品中散射效应对荧光的贡献比重基体样品大。实验证明,将散射效应包括在基本参数法的理论计算中可以有效地提高理论计算的准确度。     

X射线荧光光谱法测定球团矿二氧化钛的含量

粉末压片法制样,瑞士ARL9800XP型X射线荧光光谱仪分析球团矿中TiO2含量,建立的校准曲线线性较好.该法简便、快速、精密度和准确度能够满足生产需要.