激光固化快速成形SL7510型光敏树脂性能研究

利用红外光谱仪、紫外激光固化快速成形设备、旋转黏度计、电子拉力试验机以及热机械性能分析仪对美国Huantsman公司的SL7510型光敏树脂进行了性能研究.实验结果表明,SL7510型光敏树脂是一种环氧树脂-丙烯酸酯混杂型光敏树脂,它在30℃时的黏度为335 mPa·s,临界曝光量为10.9 mJ/cm2,透射深度为0.14 mm,固化体积收缩率为4.03%,固化物托伸强度为40.8 MPa,拉伸弹性模量为2009.2 MPa,断裂伸长率为13.6%,玻璃化温度为62℃.同时,根据所测定的光敏树脂临界曝光量和透射深度数值,选定了紫外激光固化快速成形设备的加工参数,制作了电话机外壳,其制作效果较好.     

自仿集的势论和分析性质

研究了关于自仿集上电荷分布的势论及有关分析性质。指出电荷分布、势及其Fourier变换的构造性质;明确给出了三分Cantor集上二项分布及其矩、Fourier变换、势的具体表达式;并给出一些数值结果。     

一种3×3Sagnac光纤高压电流传感器的设计

提出了一种新颖的光纤干涉型电流传感器结构 ,对其工作原理进行了分析 ,导出了其光路部分的数学模型 ,并通过实验验证了该传感器设计的合理性。与法拉第磁光效应的光纤电流传感器相比较 ,该传感器能自动补偿光纤固有的双折射和温度等环境变化产生的干扰以及光源幅度噪声的影响等优点 ;与一般干涉仪相比其工作动态范围可以扩大数百倍。     

鸡冠花炒炭前后的XRD及FTIR光谱分析

比较鸡冠花炒炭前后XRD及IR光谱特征,探讨XRD及IR光谱对鸡冠花炒炭前后鉴别的意义。运用XRD光谱及IR二阶导数光谱,对不同产地鸡冠花炒炭前后进行光谱分析。鸡冠花及鸡冠花炭的XRD图比IR二阶导数谱差异更明显。XRD光谱技术可以对鸡冠花及鸡冠花炭进行直接、快速、有效的鉴别,可为鸡冠花及鸡冠花炭鉴别和质量控制提供可靠依据。     

光胶垫板主要技术指标的给定及应用

光胶垫板技术条件的给定,直接影响到光胶垫板的使用性能和加工效率。通过对其目前所应用规范的分析,指出对其修正的必要性,提出了较合理并经实践验证的有关技术条件,不但确保了使用性能,而且降低了加工和检测的难度,提高了加工效率。     

一类与椭圆和矩形相关的孔径的夫琅禾费衍射研究

依据一类与椭圆和矩形相关的几何形状孔径的数学模型及其傅里叶变换，得出了其夫琅禾费衍射光场分布的一维积分表达式及其衍射图样，应用特征说明；在椭圆和矩形的特例情况下，其夫琅禾费衍射解析解与其他献相一致；通过分析衍射图样的特征，指出了边的形状和角的存在与否对衍射图样有着巨大的影响。     

光子晶体光纤及其在光通信中的应用

简述三类光子晶体光纤(Photonic crystal fibers,PCF)的结构、导光机制及特性,介绍了PCF的研究现状和在光通信中的应用,并探讨了PCF的应用前景。     

暗物质问题简介

暗物质的属性问题是当代物理学面临的一大挑战.文章简要回顾了暗物质的发现历史,已有的暗物质观测证据和粒子物理中的暗物质候选者以及暗物质丰度起源相关理论,还介绍了近年来暗物质的空间间接探测和地下直接探测及其在理论上研究的新进展.     

相变及空位缺陷对CaF2在高压下光学性质的影响

本文采用第一性原理方法, 计算了CaF2的理想晶体和含钙、氟空位点缺陷晶体在100 GPa压力范围内的光吸收谱和折射率. 吸收谱数据表明, 压力因素诱导的两个结构相变对 CaF2的吸收谱均有影响: 第一个相变将导致其吸收边蓝移, 而第二个相变却引起其吸收边红移. 钙空位点缺陷会使得CaF2的吸收边微弱蓝移, 但氟空位点缺陷却导致其吸收边有显著的红移. 然而, 这些红移的行为并未使得CaF2晶体在250-1000 nm的波段范围内出现光吸收的现象（是透明的）. 532 nm处的折射率数据显示, 在 CaF2的三个结构相区（Fm3m、Pnma、P63/mmc相区）, 其折射率均随压力增大而增加; 同时, 高压结构相变以及氟空位点缺陷也使得CaF2的折射率增大, 但钙空位点缺陷却导致其折射率减小. 数据分析表明, CaF2晶体有成为冲击窗口材料的可能, 本文所获得的信息对未来的实验研究有参考价值.     

相变及空位缺陷对SrF2在高压下光学性质的影响

本文采用第一性原理方法, 计算了SrF2的理想晶体和含锶、氟空位点缺陷晶体在100 GPa压力范围内的光学性质. 吸收谱数据表明, 压力因素引起的两个结构相变对SrF2的吸收谱均有影响: 第一个相变将导致其吸收边蓝移, 第二个相变将导致其吸收边红移. 空位点缺陷的存在将使得SrF2的吸收边红移, 其中氟空位点缺陷引起的红移行为更显著. 尽管如此, 这些红移并未使得SrF2晶体在可见光区出现光吸收的现象(是透明的). 波长在532 nm处的折射率数据指明, 在SrF2的三个结构相区, 其折射率均随压力的增加而增大, 且SrF2的高压结构相变也使得其折射率增大. 锶空位点缺陷将导致SrF2的折射率降低, 但氟空位点缺陷的存在对其基本没有影响. 分析表明, SrF2晶体有成为冲击窗口材料的可能.