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本文采用改进的侧偏余弦函数作为造型基函数,使用Beier样条曲线控制造型参数沿轴向的变化规律,构造了一套叶栅非轴对称端壁造型系统。并在此基础上,进一步加入对三维叶型积叠规律的控制,将弯叶片造型方法和非轴对称端壁造型系统整合成非轴对称端壁与三维叶片积叠联合造型系统。将该造型系统与商业优化软件iSIGHT集成,采用模拟退火算法对某两级透平的第一级静叶进行了气动优化设计,优化目标为气动效率最高。优化后绝热效率增加了约0.43%,流量增加了约2.1%。优化结果表明非轴对称端壁与三维积叠的联合造型方法能够在单一造型方案的基础上进一步提高叶栅的气动效率。 相似文献
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基于NURBS的叶片全三维气动优化设计 总被引:3,自引:0,他引:3
采用NURBS对叶轮机械叶片的关键截面和基迭线进行参数化表达,该表达方法为基于现代优化算法的叶片粘性气动最优化设计提供设计变量,以实现对叶片截面和叶片基迭线弯、倾、扭、掠变形的控制。该方法编写成的叶片全三维控制模块和网格自动生成程序、CFD程序集成到商业软件iSIGHT中,构成了叶片全三维粘性气动优化设计平台。在该平台上选用ASA成功进行了某透平静叶片的全三维粘性气动最优化设计。实验结果表明通过同时改变叶片截面和叶片基迭线的方法能够有效地抑制叶片的二次流损失,因此该设计平台在叶片气动优化设计中有广阔的应用前景。 相似文献
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用腐蚀法研究了β-SiC外延层中的晶体缺陷。腐蚀剂为熔融氢氧化钾。三角形尖底蚀坑对应于位错。在β-SiC中的全位错为立方晶系的73°位错和60°位错。不同堆垛方式的β-siC生长层相遇时将形成{111}交界层错,其腐蚀图象为平行于<110>方向的直线。60°位错可分解为两个1/6<112>SchockLey不全位错,并夹着一片{111}层错构成扩展位错。三个1/6<110>压杆位错与三片{111}层错可构成层错锥体。正、反堆垛的β-SiC可形成尖晶石律双晶,双晶面为(111)。腐蚀法和X射线劳厄法证实了这种双晶的存在。
关键词: 相似文献
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汽相生长的ZnS·Cu单晶交流电致发光线的疏密与生长层线的疏密相对应。用X射线周转晶体法对1050℃汽相生长的ZnS晶体结构进行了分析。结果表明,生长层线疏密不同,结构差别很大,层线区的结构特点是层错的无规分布。ZnS·Cu单晶交流电致发光线的产生与结构中层错的无规分布有关。 相似文献
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Sharp absorption lines near the fundamental edge caused by planar stacking faults in BiI3 crystals have been investigated on absorption and luminescence spectra. Under high excitation-photon densities these lines show peak-shift and line broadening. The high density effects on the exciton bound at the defects shows a two-dimensional feature of the exciton motion. 相似文献
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基于NURBS三维造型的粘性气动最优化设计技术 总被引:5,自引:1,他引:4
开发了用非均匀有理B样条对叶轮机械叶片进行参数化三维重构的建模方法,成功实现了透平叶片、压气机叶片和风扇叶片的统一三维重构,并把该模块集成到了基于商业软件iSIGHT的气动优化平台中。在该气动优化平台上通过选择不同的优化策略,对一透平叶片分别进行了“基迭方式气动优化”和“全三维气动优化”,结果证明优化效果显著。 相似文献
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The variation of certain lines of diffraction of the substrate, when adsorption takes place, can give information on the position of the adsorbate relative to the substrate and its degree of registry. This variation is altered by stacking faults in the substrate. A calculation of these variations, which takes account of the above faults, is presented. It is shown that when stacking faults are few a good approximation can be obtained by considering perfect crystallites, but the exact allotropie variety depends upon the line examined. 相似文献