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相似文献
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1.
能散X荧光分析仪分析烧结矿   总被引:2,自引:0,他引:2  
根据西核FJ-2810G能散X荧光分析仪在水泥行业的成功使用经验,用XRF法对烧结矿化学成分进行了研究,绘制了标准曲线,并进行了数学校正,经过试验,已成功地用于烧结生产控制分析。  相似文献   

2.
<正>X射线荧光光谱(XRF)分析中的基本参数法(FP),有着足够高的分析精度,它在新合金的化学成分分析中被广泛地应用。航空工业中新合金材料不断涌现,但因用户少、成本高,很少有单位研制相应的供XRF分析用的成套标准样品。目前在航空发动机上应用的新牌号材料仅镍基高温合金就达40余种,却只有DZ125与GH4169两套标准样品面世,且只有主量成分,没有次量成分。单标样灵敏度系数法(即FP)的高分析精度是  相似文献   

3.
能量色散型X荧光分析仪测定生铁样品   总被引:4,自引:0,他引:4  
目前 ,国内钢铁企业生铁样品分析大多采用传统的化学分析方法 ,分析速度慢 ,难以满足生产需要 ,部分企业采用进口的波长色散型X荧光分析仪 ,但因其价格昂贵 ,很多企业难以接受。而采用能量色散型X荧光分析仪 (简称EDXRF)测定生铁样品 ,国内还未见报道。本文试验了国产X荧光仪分析生铁样品的方法 ,成功地应用于炼铁化验室生产分析 ,为国内炼铁化验手段的更新换代作了有益的探索。1 试验部分1.1 仪器及性能WISDOM 80 0 0型能量色散X荧光分析仪 (上海精谱仪器有限公司 )分析范围 :同时分析元素周期表中由钠到铀之间的全部元素。高压发…  相似文献   

4.
X射线荧光光谱分析技术(XRF)是元素分析的有效工具,其快速、无损、多元素同时测定的特性能满足稀土元素的分析需求,在地质、冶金等多个领域中发挥着十分重要的作用。21世纪以来,稀土产业以及二次资源再利用的发展使得XRF分析方法的同步研发得到重视。本文对近年X射线荧光光谱技术的发展,样品制备方法的完善,稀土分析方法的优化及其在组分、微区与形态的分析中的应用现状进行概述,旨在为XRF技术在稀土分析方面的发展及推广提供参考思路。  相似文献   

5.
用国产红外仪进行微量碳硫分析的探讨   总被引:2,自引:1,他引:2  
用国产CCS-140型红外仪,进行了微量碳硫分析的试验与探讨,结果令人满意。  相似文献   

6.
元素薄膜标样是X射线荧光光谱(XRF)法用于大气颗粒物样品中无机元素测定的必备实验用品。开发满足计量溯源要求的国产元素薄膜标样对于建立大气颗粒物元素XRF分析校准曲线,降低基层实验室用户采购薄膜标样费用具有重要意义。同时采用基于薄膜酸消解的等离子体发射光谱(ICPOES)和基于直接测定的波长色散X射线荧光光谱(WD-XRF)两种方法,提出了对元素薄膜样品进行定值的技术路线,并以稀土元素薄膜样品的定值为例进行了验证。用镀膜固体粉末材料探讨了酸消解体系和ICP-OES分析方法的可行性,实验结果表明,稀土元素回收率93.3%~99.7%。基于酸消解-ICPOES测定值建立的WD-XRF校准曲线具有良好线性关系,各元素相关系数0.9978~1.000。实现了WD-XRF测定结果应满足计量溯源要求的预期目的。基于同一批元素镀膜样品X射线荧光强度数据精密度,对镀膜工艺一致性进行了考察,相对标准偏差0.16%~1.5%。测量结果不确定度的评估数据表明,对于低含量元素薄膜样品,ICP-OES拟合模型误差是测量结果不确定度的主要分量。实验结果为后续开展元素薄膜标样协作定值奠定了基础。  相似文献   

7.
用X射线荧光光谱法测定了洗衣粉中硅,铝,磷,硫的含量,并与化学法进行了比较。结果表明,本法样品处理简单,分析速度快,可用于快速确定洗衣粉的化学成分。  相似文献   

8.
闪锌矿结构CdS纳米晶的制备   总被引:3,自引:0,他引:3  
以3-巯基丙酸为硫源, 采用水热法制备了尺寸小于10 nm、具有强光致荧光的闪锌矿型立方CdS半导体纳米晶. 用EDS能谱、透射电镜(TEM)、高分辨透射电镜(HRTEM)和XRD对晶体的化学成分、大小及结构进行了表征, 并分析了影响纳米晶尺寸的因素, 研究了闪锌矿型硫化镉纳米晶的荧光激发与发射谱.  相似文献   

9.
高杂质钼铁中Mo等元素的能量色散X射线分析   总被引:1,自引:0,他引:1  
对一批高杂质钼铁进行了能量色散X射线(EDX)分析,测出了Mo的质量分数以及所含P、S、V、Ni等杂质元素,并与X射线荧光(XRF)的分析结果做了比较。实验采用大载荷压力机将粉末样品压片,用扫描电子显微镜(SEM)检查样品的表面形貌。实验表明,Mo和Si的分析结果令人满意,而P、S、Cu较差。  相似文献   

10.
超细样品的地质分析应用   总被引:3,自引:0,他引:3  
采用X-射线荧光(XRF)、电感耦合等离子体光谱和质谱(ICP-AES/MS)技术,研究了超细地质分析样品(约800目)的分析方法和条件.结果表明,对于超细样品,XRF可直接粉末压片制样而不必高温熔融制样进行高精度的主、次组分测定;ICP-AES/MS的取样量可降至2 ~5 mg(仅为-200目样品的1/20 ~1/50),试剂用量大大减小,样品更易消解,不仅可节约成本,降低能耗,还显著减小了对环境的影响.讨论了发展超细样品分析的意义及对地质分析技术发展的可能影响.  相似文献   

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