一种多指标质量动态控制图及其应用

研究了将多指标在一个图上标示的多指标控制图。提出了三种质量控制限并作了比较。控制上限(UCL)取Hotelling的T2统计量的α/2上侧分位数。预控上限(UPCL)取Hotelling的T2统计量的λα/2上侧分位数。当第k个观测点的T2k值超过UPCL时,则接下去的抽样区间将缩短,以便及早发现失控状态。对超出控制限的情况下如何确定哪一个质量指标发生异常的问题,提出了一种可靠的分析方法。用这种方法解决了某卷烟厂的烟丝生产过程中的多指标质量控制和管理问题。     

修正贝叶斯控制图与累积和控制图的比较分析

面向多品种、小批量制造过程的小波动检验是目前统计过程控制图发展和研究的方向.在对修正贝叶斯控制图与累积和控制图原理进行比较后,通过一组过程仿真数据对两种控制图进行了分析,指出了两种控制图的特性和应用前景.     

改进的SPC控制图在食品质量检测中的应用

统计过程控制中的控制图是从事统计过程管理常用的重要工具多年的发展与实践表明传统的控制图已得到广泛的应用可是运用多张控制图进行过程控制仍然存在许多不便和弊端.对此用综合主成分分析法对传统的控制图进行了整合,从而得到一张综合控制图并用这个改进的综合控制图对食品检验过程进行控制,给出了具体的应用步骤以及对结果进行了详细地分析.其结果表明综合控制图不仅结合了传统控制图的优点避免了运用多张控制图进行控制的不便同时又提升了警报的准确率降低了虚假警报的概率.     

多元统计过程控制中的投影寻踪方法

投影寻踪（projection pursuit,简称PP）方法是通过高维数据在低维投影上的统计分析,由此充分获取高维数据本身的统计和信息的一类统计方法,并在统计过程控制中得到广泛应用,本文主要介绍利用投影寻踪方法在统计过程控制中所构造的新控制图及其优良性质,它们包括：监测线性趋势的M控制图,监测均值微小飘移的PP－CUSUM控制图以及矩链过程的多元控制图。     

异常数据检验的屏蔽效应

本文对屏蔽效应的一系列定理进行了归纳和证明，针对极值分布或威布尔分布，讨论了文献[1]中提出的六种检验统计量的屏蔽效应，文中仅给出了对Dixon型和F型统计量的结果，说明F型统计量能避免屏蔽效应。     

ARL计算方法综述

质量控制图的研究在统计过程控制(Statistical Process Control,简称SPC)中占有很重要的位置,且在实际中得到了很好的应用,也取得了很好的经济效益和社会效益。而ARL(AverageRun Length)和ATS(Average Time to Signal)分别是评价各种静态和动态控制图性质好坏的一个常用的关键指标。到现在为止,关于各种控制图ARL或ATS的计算大致有三种方法:马氏链法、积分方程法和随机模拟,本文将针对各种不同的控制图,对上述前两种方法做一个综述性的总结,以方便研究者和实际工作参考使用。     

几类正态过程的CUSUM图

本文针对呈正态分布的过程数据, 讨论当过程参数$(\mu,\sigma^2)$已知或未知时单参数变化、双参数变化的过程控制问题. 针对均值未知情况,利用Quesenberry提出的$Q$统计量构造了一系列标准化的CUSUM图;对于方差未知时的复杂情形, 给出了一种构造更为简单的CUSUM图的方法;对于未知(或不关心) $(\mu,\sigma^2)$中何者变化的特殊情形, 文章提出了纯变化的概念, 给出了相应统计量及由该统计量构造的CUSUM-D图, 针对每个考虑的情形, 通过模拟计算本文给出了相应于统计量的条件期望延时(CED), 同时在文章最后给出了本文提出的CUSUM图与已有的CUSUM图($Q$图)的模拟比较, 结果表明新的CUSUM图是可行的.     

测量误差对单位根检验的影响

本文推导了加性平稳测量误差下单位根检验中有截距和无截距情形下T(p-1)与τ两种统计量的极限分布。理论分析和蒙特卡罗实验均表明,单位根检验结果易受到测量误差的影响。测量误差将导致统计量分布向左偏移,从而导致检验水平的扭曲和检验功效的增加。左偏程度受测量误差方差及其一阶协方差的相对大小控制,而与测量误差的均值大小和概率分布无关。测量误差方差增大,左偏更严重;正的一阶协方差可以减少和抵消统计量分布的向左偏离,而负的一阶协方差将加剧左偏的程度;一阶协方差接近于方差时,左偏程度很小。测量误差的方差相对较小时,其对单位根检验的影响可以忽略。     

阶段Ⅱ监控手术表现的风险调整后的几何控制图（英文）

近年来,统计过程控制(SPC)己被广泛用于监测临床从业人员的表现.本文建立了两个阶段II的风险调整的几何控制图,即累积和(CUSUM)和加权似然比检验(WLRT)控制图,用来监控手术的表现.通过模拟实验,以平均运行长度(ARL)为标准,对所提出的控制图的性能进行了评估和比较.结果表明,所提出的控制图可以有效地检测到过程参数的变化.     

Kolmogorov统计量的精确分布及其在Bootstrap逼近中的应用

假设x₁,x_m iid服从分布F,当F连续时,Kolmogorov统计量的精确分布已由张里千(1956)获得.本文考虑在n个点上取概率为1/n的离散分布.得到的精确分布与张里千的结果有相同的形式.利用这个结果,得到Kolmogorov统计量分布的Bootstrap逼近的收敛速度为n^-1/2的阶.这是对统计量的极限分布形式复杂甚至未知的情况下Bootstrap逼近的收敛速度问题的一个初步的探讨.     

多元自相关过程的VAR控制图

为了解决多元自相关过程的残差T~2控制图对小偏移不灵敏的问题,本文利用批量-均值法的思想,结合VAR模型的渐近分布,设计了多元自相关过程的向量自回归(VAR)控制图.只要子组样本量足够大,VAR控制图可以对过程出现的各种偏移进行有效控制.通过对比残差T~2控制图的控制效果,得出VAR控制图对小偏移灵敏、残差T~2控制图对大偏移灵敏的结论,联合使用VAR控制图和残差T~2控制图可更有效地监控多元自相关过程。     

基于多点报警的多元统计过程控制

本文主要研究了一种将控制图的报警准则由一点改为多点时多元控制图的构造,对于不同的多点报警准则的控制图可以通过计算平均运行长度的方法得出了不同的控制限参数。然后本文对各种报警准则下的多元控制图与Hotelling T2控制图,MCUSUM(多元累计和控制图)和MEWMA(多元指数加权移动平均控制图)进行了比较,说明这种改变报警规则的多元控制图在监测过程中出现的微小波动时具有一定的优势。     

用数形结合法求解连续型随机变量的函数分布问题

针对概率统计课程教学中的关于"连续型随机变量函数的分布"这类难点,利用数形结合的思想,巧妙的通过一副图形完全涵盖了这一类问题所需的概率知识点,且帮助了学生后续积分的计算.表明数形结合法是一个值得在概率统计教学中推广的好方法.     

城市蔬菜产品品种污染监控系统的研究及其应用

蔬菜产品中的农药残留问题一直为市民所关心,为了让市民了解日常消费的蔬菜产品品种的质量状况和污染水平,本文结合深圳市布吉、福田两大农产品批发市场2003年1~4月份的监测抽样数据,应用主成分分析及Hotelling统计量等多元统计方法,结合SAS系统与Delphi系统建立城市蔬菜产品品种污染监控系统。该监控系统不仅可以为市场提供及时的蔬菜产品品种质量状况和污染水平的信息,而且对于及时监控流入市场的蔬菜质量、保障市民身体健康、引导市场消费等都具有重要意义。     

新同伦不变数量 Ⅰ.一个短正合序列

<正> 自从Poincaré引入同调概念以来,人们一直想用依附于空间的各种代数结构来区分空间本身.这种代数结构,经过许多年和许多人的工作,越来越精细,越来越富有成果.如从同调论引伸出来的广义同调论,特别是其中的K理论,显示了很大的威力.但由于新代数结构的深入细致,不免也愈益复杂.     

Orthogonal separable Hamiltonian systems on T~2

In this paper we characterize the Liouvillian integrable orthogonal separable Hamiltonian systems on T~2 for a given metric,and prove that the Hamiltonian flow on any compact level hypersurface has zero topological entropy.Furthermore,by examples we show that the integrable Hamiltonian systems on T~2 can have complicated dynamical phenomena.For instance they can have several families of invariant tori,each family is bounded by the homoclinic-loop-like cylinders and heteroclinic-loop-like cylinders.As we know,it is the first concrete example to present the families of invariant tori at the same time appearing in such a complicated way.     

Economic design of an attribute control chart for monitoring mean life based on multiple deferred state sampling

In this paper, we design an attribute np control chart using multiple deferred state (MDS) sampling under Weibull distribution based on time truncated life test. This chart is constructed for monitoring the variation of mean life of the product in a manufacturing process. The optimal parameters of MDS sampling and the control limit coefficients are determined so that the in‐control average run length (ARL) is as close as to the target ARL. The optimal parameters of MDS sampling are sample size and number of successive subgroups required for declaring the current state of process. Out‐of‐control ARL is considered as a measure of the performance of proposed chart and reported with determined optimal parameters for various shift constants. The out‐of‐control ARL of the proposed chart obtained under various distributions is compared with each other. The performance of proposed control chart is compared with the performance of the existing control chart designed under single sampling. In addition, the economic design of proposed chart using variable sampling interval scheme is discussed, and sensitivity analysis on expected costs is also investigated.     

Recurrence relations for single and product moments of progressive Type-II right censored order statistics from exponential and truncated exponential distributions

In this paper, we establish several recurrence relations satisfied by the single and product moments of progressive Type-II right censored order statistics from an exponential distribution. These relations may then be used, for example, to compute all the means, variances and covariances of exponential progressive Type-II right censored order statistics for all sample sizes n and all censoring schemes (R ₁, R ₂, ..., R _m ), mn. The results presented in the paper generalize the results given by Joshi (1978, Sankhy Ser. B, 39, 362–371; 1982, J. Statist. Plann. Inference, 6, 13–16) for the single moments and product moments of order statistics from the exponential distribution.To further generalize these results, we consider also the right truncated exponential distribution. Recurrence relations for the single and product moments are established for progressive Type-II right censored order statistics from the right truncated exponential distribution.     

铜基复合材料组织形态分形特征的统计分析与研究

通过对铜基复合材料显微组织结构相图的分析和研究,根据分形理论,计算了不同实验条件下铜基复合材料横截面和平行压制力面的显微组织结构相图的分形维数,同时结合统计方法分析了铜基复合材料分形维数的一些统计特性,结果表明,分形维数反映了石墨在样品中的分布规律,分形维数越大,组织结构相图越复杂,石墨分布越不规则,故石墨分布的不规则性可用分形维数来刻画,分形维数可作为材料组织形态分析的一个表征参数,通过统计分析可知,铜基复合材料横截面和平行压制力面的组织结构相图的分形维数服从正态分布,且横截面和平行压制力面的分形维数随石墨含量变化的情况互不影响。