LA-ICP-MS锆石U-Pb同位素定年存在的基体效应研究进展

激光剥蚀电感耦合等离子体质谱法(LA-ICP-MS)是开展锆石微区原位U-Pb同位素定年研究的重要技术方法。LA-ICP-MS锆石U-Pb同位素定年存在的基体效应是影响其分析结果准确度和精密度的主要因素。依据前人有关基体效应的研究成果,总结了基体效应的类型主要有元素基体效应、高铀或高D_(dpa)基体效应以及α通量基体效应,详细阐述了各种基体效应的性质和产生机理,探讨了已建立的基体效应应对策略存在的问题和不足(引用文献46篇)。     

LA-ICP-MS锆石U-Pb同位素定年存在的基体效应研究进展北大核心CSCD

激光剥蚀电感耦合等离子体质谱法(LA-ICP-MS)是开展锆石微区原位U-Pb同位素定年研究的重要技术方法。LA-ICP-MS锆石U-Pb同位素定年存在的基体效应是影响其分析结果准确度和精密度的主要因素。依据前人有关基体效应的研究成果,总结了基体效应的类型主要有元素基体效应、高铀或高D_(dpa)基体效应以及α通量基体效应,详细阐述了各种基体效应的性质和产生机理,探讨了已建立的基体效应应对策略存在的问题和不足(引用文献46篇)。     

电感耦合等离子体-发射光谱分析中硫酸基体效应及抑制

研究了电感耦合等离子体-发射光谱分析中的硫酸基体效应及克服干扰的有效方法。对2%~20%范围内4种不同体积分数H2SO4溶液中30种元素的基体效应进行了观察,发现H2SO4对各元素的谱线发射强度均存在明显的抑制作用。实验证实体积分数5%乙酸可有效抑制H2SO4的基体效应,并建立了H2SO4溶液中痕量元素的电感耦合等离子体-发射光谱分析法。     

激光剥蚀电感耦合等离子体质谱分析硅酸盐矿物基体效应的研究

标样与样品之间基体效应的差异是影响LA-ICP-MS分析结果准确度的重要因素,而元素的相对灵敏度因子(RSF)是基体效应的重要表征.本研究考察了17个玻璃标样中49种常见元素及10个电子探针天然硅酸盐矿物标样中10种主、微量元素RSF的差异,比较了以Ca,Al,Si为内标对基体效应的补偿作用及元素分馏效应的影响.结果表...     

应用手持式XRF分析仪快速测定白铜中的Cu、Ni、Co含量

采用国产手持式XRF分析仪快速分析了白铜合金主元素的含量,探讨了白铜合金基体效应对测量结果的影响,采用经验系数法中多元回归分析建立数学模型,较好地校正基体效应,分析白铜合金中铜、镍、钴的平均相对误差分别为0.39%、1.83%、1.59%。     

高纯氧化钇的感耦等离子体发射光谱分析及基体效应的研究

以高纯氧化钇中稀土杂质的ICP-AES测定为例, 研究了基体对分析元素谱线强度的影响及基体效应与工作条件的关系, 指出基体效应除主要来自分析物进样效率的降低外, 大量基体进入ICP降低了激发温度并对分析物的电离产生抑制作用, 提出用Se内标法代替通常的基体匹配法来补偿基体效应。进行了折衷条件选择及联样量确定等研究。实样分析表明, 内标法和基体匹配法所得结果一致, 加入回收率为87-120%, 精度也符合分析要求。     

高纯氧化钨中微量杂质的ICP—MS法测定

报道了高纯氧化钨中铅，等微量杂质的电感耦合等离子体质谱测定方法。连择了仪器最佳操作参数，考察了质谱干扰和基体效应，选用标准加入法可克服基体效应。方法不经分离富集，各元素测量值与标准值相吻合，相对误差小于５％，方法快速，准确。     

用X射线的散射强度确定样品的等效原子序数

在X射线荧光分析中,如果待测样品是一个较为复杂的未知体系,则在考虑样品对X射线的基体效应时,需要确定样品的原子序数。一些作者用实验方法测定了等效弹性散射和非弹性散射强度与原子序数的关系曲线,由此可以定出等效原子序数。     

XRF方法在铜镍尾矿分析中的应用

介绍了XRF方法在铜镍尾矿分析中的基本原理,讨论了湿度、压样力度、基体效应对测量结果的影响,建立了基体效应校正模型。对某矿区的铜镍尾矿样品进行了分析。结果表明,该法精密度好,测定Cu的相对标准偏差为1.215%,N i为1.768%,可实现铜镍尾矿中Cu、N i元素含量的准确、无损、快速分析。     

电感耦合等离子体质谱测定地质样品中多种元素

用电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)测定了地质样品中多种元素。考察了测量过程中的基体效应及质谱干扰,利用In内标,补偿由于基体效应的影响所引起的测量偏差,建立校正公式校正质谱干扰。方法的检出限为0.06~250ng/L,精密度为1.7%~3.2%,加标回收率为91%~108%,方法适于批量地质样品分析。     

氟化电热蒸发／电感耦合等离子体原子发射光谱中的基体效应研究

本文系统研究了氟化电热蒸发／电感耦合等离子体原子发射光谱（ＥＴＶ－ＩＣＰ－ＡＥＳ）测定难熔元素的基体效应。与常规气动雾化（ＰＮ）－ＩＣＰ－ＡＥＳ中的基体效应比较，氟化ＥＴＶ－ＩＣＰ－ＡＥＳ中的基体效应更小。对难熔基体元素，由于基体和待测元素与氟化剂之间的竞争反应，随着基体浓度的增加，待测元素谱线强度降低；对常见基体元素，由于热循环中基体与待测元素之间的选择挥发，对待测元素的蒸发和传输过程无明显影响     

同位素源激发X-射线荧光分析合金样品的吸收-增强效应的数学校正—基本参数法

本文叙述了利用基本参数法校正源激发合金元素荧光分析的基体效应的基本原理、基体效应的修正方法。讨论了当激发源的能量比元素的吸收限大很多时,吸收系数的散射修正,利用~(241)Am源激发,测量了铅锡合金和高合金钢样品中各元素的荧光强度,并用自编数据处理程序计算了元素含量,结果与标准含量进行比较。计算含量误差一般小于10％。     

电感耦合等离子体质谱法测定高纯铁中21种元素时的基体效应北大核心CSCD

对用电感耦合等离子体质谱法测定纯铁中21种元素(包括Li、Be、B、Al、Ti、Mn、Co、Ni、Cu、Zn等),通过加入高纯铁作为基体,试验考察了不同量的铁基体对上述被测元素的信号强度的影响。结果发现:铁基体质量浓度在40mg·L^(-1)以内时,待测元素的相对信号强度与铁基体浓度保持较好的线性关系;当铁基体质量浓度增大至400mg·L^(-1)时,除了Mn、Co两元素外,铁基体对其他待测元素均产生一定的抑制作用。基于对内标元素的基体效应分析,选择与待测元素有相似基体效应的内标元素,以校正基体效应。     

电感耦合等离子体质谱法测定高纯稀土样品中多种非稀土杂质

研究建立了高纯稀土样品中24种非稀土杂质元素的电感耦合等离子质谱法(ICP-MS)测定方法。考察了几类典型金属样品分析中的基体效应,引入内标元素铟,有效补偿了基体效应引起的非质谱干扰。对几种在分析过程中存在质谱干扰的样品,通过分离基体进行测定。方法测定下限为1.8~390 ng.g-1,RSD为2.9%~5.4%,加标回收率为92%~107%。     

ICP-MS法测定超细锆钇粉中多种杂质元素的研究

用电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)直接测定超细锆钇粉中多种杂质元素,考察了基体效应对测定元素的影响。定量加入内标元素有效地校正了基体效应及仪器波动等因素引起的测量偏差。方法的固体检出限在0．01～10／zg／g;精密度在1．1％～4．7％;加标回收率在91．0％～110．5％范围。     

火花源质谱定量分析中的基体效应问题

本文着重评述了80年代研究火花源质谱法中的基体效应问题所取得的成绩和面临的困难。     

电感耦合等离子体质谱法测定高纯铁中21种元素时的基体效应

对用电感耦合等离子体质谱法测定纯铁中21种元素(包括Li、Be、B、Al、Ti、Mn、Co、Ni、Cu、Zn等),通过加入高纯铁作为基体,试验考察了不同量的铁基体对上述被测元素的信号强度的影响。结果发现:铁基体质量浓度在40mg·L~(-1)以内时,待测元素的相对信号强度与铁基体浓度保持较好的线性关系;当铁基体质量浓度增大至400mg·L~(-1)时,除了Mn、Co两元素外,铁基体对其他待测元素均产生一定的抑制作用。基于对内标元素的基体效应分析,选择与待测元素有相似基体效应的内标元素,以校正基体效应。     

电感耦合等离子体质谱法测定土壤中有效态微量元素

以NaNO3为提取剂,采用电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)技术同时测定土壤中有效态Cu、Cd、Cr、Zn、Ni、Pb、Mn 7种微量元素.考察了基体效应以及质谱干扰等因素,引入Rh为内标元素有效地克服了基体效应所引起的测量偏差.方法的检出限为0.033～0.21 μg/L,样品加标回收率为92.1％～116.8％,相对标准偏差(RSD)小于6.07％.     

经验系数法X射线荧光光谱测定硅酸盐中微量元素

利用粉末样品直接压片,以峰背(包括X光管靶线的康普顿散射线)比法校正基体效应,X射线荧光光谱测定硅酸盐中微量元素,方法简便快速,检出限通常可达到数个ppm。然而,若单纯采用峰背比法校正基体效应,硅酸盐样品中主元素铁的含量在较大范围内变化时,会造成较大的测定误差。本文在峰背比法的基础上,同时采用经验系数法校正由铁含量变化造成的基体及背景的影响,提高了方法的准确度。     

等离子体质谱法测定地质样品中痕量稀土元素的基体效应 …

采用模拟地质样品中稀土元素间天然组成比的基体匹配校正标准溶液进行外标校正,有效地抑制了地质样品分析中的基体效应,以＾１１５Ｉｎ－＾１０３Ｒｈ双内标元素校正,监控和校正分析信号的短期和长期漂移;通过单个稀土元素及钡的氧化物,氢氧化物的测定计算出等效的干扰浓度,进而校正了稀土元素分析中多原子离子干扰。建立了地质样吕吕痕量稀土元素测定中基体效应及多原子离子干扰的校正方法。通过对５个标准参考物质的分析,定