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| 用同步辐射X射线研究材料结构 | |
| 引用本文： | 杨传铮,JohnM.Newsam.用同步辐射X射线研究材料结构[J].物理学进展,2011,12(2):129-167. |
| 作者姓名： | 杨传铮 JohnM.Newsam |
| 作者单位： | 美国EXXON研究与工程公司 |
| 摘 要： | 使用同步辐射X射线进行材料的散射、衍射和吸收实验要比用一般X射线源的实验能提供新的、更精确、更详细的结构信息。同步辐射实验技术已发展到经常用于解决材料结构问题广泛领域的阶段。本文评述了作为材料原子级结构研究的同步辐射X射线散射和吸收技术的新进展,描述了包括表面和界面结构、局域结构、晶体结构和晶体缺陷在内的某些结构研究新例子,也提及最新发展和展望。 |
| 关 键 词： | 无 |
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