| X-射线单晶衍射仪易风化晶体低温显微上样系统的研制 |
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| 作者姓名： | 杨培菊 沈志强 黄晓卷 胡霄雪 牛建中 |
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| 作者单位： | 中国科学院 兰州化学物理研究所 公共技术服务中心,甘肃 兰州 730000;中国科学院 兰州化学物理研究所 羰基合成与选择氧化国家重点实验室,甘肃 兰州 730000;中国科学院 兰州化学物理研究所 羰基合成与选择氧化国家重点实验室,甘肃 兰州,730000 |
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| 基金项目： | 中国科学院仪器设备功能开发技术创新项目（2018gl03） |
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| 摘 要： | 易风化晶体离开母液就会风化并失去结晶溶剂,导致结构塌陷,由单晶变成粉末,从而无法完成测试.X-射线单晶衍射仪易风化晶体低温显微上样系统利用晶体在低温下比较稳定的原理,通过维持选样与上样过程中的低温环境,使易风化晶体能够得以测试,从根本上解决了风化晶体的测试问题.系统的研制为易风化晶体化合物结构的测试提供有力的技术保障,是单晶衍射仪功能开发的重要技术创新.
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| 关 键 词： | X-射线单晶衍射仪 单晶 易风化晶体 低温 |
| 收稿时间： | 2019-04-29 |
| 修稿时间： | 2019-05-24 |
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