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沉积温度对LaNiO3薄膜结构和性能的影响
引用本文:刘保亭,武德起,闫正,乔晓东,赵庆勋,王英龙. 沉积温度对LaNiO3薄膜结构和性能的影响[J]. 人工晶体学报, 2006, 35(2): 276-279
作者姓名:刘保亭  武德起  闫正  乔晓东  赵庆勋  王英龙
作者单位:河北大学物理科学与技术学院,保定,071002;河北大学物理科学与技术学院,保定,071002;河北大学物理科学与技术学院,保定,071002;河北大学物理科学与技术学院,保定,071002;河北大学物理科学与技术学院,保定,071002;河北大学物理科学与技术学院,保定,071002
基金项目:国家自然科学基金(No.50572021),国家人事部留学人员择优资助,河北省自然科学基金(E2005000130),河北大学人才引进基金(B0406030)
摘    要:采用磁控溅射法在(001)SrTiO3 基片上制备了LaNiO3氧化物薄膜,应用X射线衍射(XRD)、反射式高能电子衍射(RHEED)、原子力显微镜(AFM)、四探针测试仪等技术系统研究了沉积温度对LaNiO3薄膜结构和性能的影响.结果表明在较低的生长温度和较宽的温度范围内(250~400℃)都能得到外延LaNiO3薄膜.输运性质的测量结果表明在其它条件不变的情况下,250℃温度下生长的LaNiO3薄膜具有最高的电导率.

关 键 词:LaNiO3  外延薄膜  磁控溅射
文章编号:1000-985X(2006)02-0276-04
收稿时间:2005-08-16
修稿时间:2005-08-16

Impacts of Deposition Temperature on the Structural and Physical Properties of LaNiO3 Films
LIU Bao-ting,WU De-qi,YAN Zheng,QIAO Xiao-dong,ZHAO Qing-xun,WANG Ying-long. Impacts of Deposition Temperature on the Structural and Physical Properties of LaNiO3 Films[J]. Journal of Synthetic Crystals, 2006, 35(2): 276-279
Authors:LIU Bao-ting  WU De-qi  YAN Zheng  QIAO Xiao-dong  ZHAO Qing-xun  WANG Ying-long
Affiliation:College of Physics Science and Technology, Hebei University, Baoding 071002, China
Abstract:
Keywords:LaNiO_3  epitaxial film  magnetron sputtering  
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