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基于牺牲层工艺的微流控亚微米粒子计数器研究
引用本文:刘建涛,高运华,韩子钰,李春,段学欣.基于牺牲层工艺的微流控亚微米粒子计数器研究[J].分析试验室,2019,38(11):1278-1281.
作者姓名:刘建涛  高运华  韩子钰  李春  段学欣
作者单位:精密测试技术及仪器国家重点实验室(天津大学),天津,300072;中国计量科学研究院,北京,100013
摘    要:设计了一种基于微机电系统表面微加工工艺的亚微米粒子计数器微流控芯片。该芯片具有可大规模生产、价格低廉的优势,相比于纳米粒子跟踪分析技术和动态光散射技术,具有体积小、便于集成和在线检测的优点。芯片的检测区域尺寸为高700 nm、宽1μm,可以检测到粒径300 nm的聚苯乙烯微球,具有良好的信噪比。该芯片可以提供一种新的价格低廉的亚微米颗粒物在线检测方法,且采用微机电加工技术,和半导体加工工艺兼容,具有形成芯片实验室的潜力。

关 键 词:微流控  微机电系统  库尔特粒子计数器  亚微米粒子
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