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竖直式HVPE反应系统的理论模拟与GaN厚膜生长
引用本文:马平,段垚,魏同波,段瑞飞,王军喜,曾一平,李晋闽. 竖直式HVPE反应系统的理论模拟与GaN厚膜生长[J]. 半导体学报, 2007, 28(Z1): 253-256
作者姓名:马平  段垚  魏同波  段瑞飞  王军喜  曾一平  李晋闽
作者单位:马平(中国科学院半导体研究所,北京,100083);段垚(中国科学院半导体研究所,北京,100083);魏同波(中国科学院半导体研究所,北京,100083);段瑞飞(中国科学院半导体研究所,北京,100083);王军喜(中国科学院半导体研究所,北京,100083);曾一平(中国科学院半导体研究所,北京,100083);李晋闽(中国科学院半导体研究所,北京,100083)
摘    要:根据流体动力学模型,研究了反应气体在反应室内的浓度分布,以及反应室的温场分布.NH3浓度在衬底附近分布均匀,而GaCl浓度在衬底中心区域较大,周边较小.实验结果表明,外延层在中心区生长速率为260μm/h,周边为140/μm/h.X射线摇摆曲线半高宽为141".O杂质的引入,使得样品具有较强的黄光发射.

关 键 词:氢化物气相外延  理论模拟  GaN  竖直  HVPE  反应系统  理论模拟  厚膜  生长速率  Film Growth  Reactor  Vertical  Simulation  黄光发射  样品  半高宽  曲线  射线  中心区域  外延层  结果  实验  分布均匀
文章编号:0253-4177(2007)S0-0253-04
修稿时间:2006-12-12

Theoretical Simulation of Vertical HVPE Reactor and GaN Thick Film Growth
Ma Ping,Duan Yao,Wei Tongbo,Duan Ruifei,Wang Junxi,Zeng Yiping,Li Jinmin. Theoretical Simulation of Vertical HVPE Reactor and GaN Thick Film Growth[J]. Chinese Journal of Semiconductors, 2007, 28(Z1): 253-256
Authors:Ma Ping  Duan Yao  Wei Tongbo  Duan Ruifei  Wang Junxi  Zeng Yiping  Li Jinmin
Abstract:
Keywords:
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