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分类号
杂志ISSN号
利用数值模拟测量闪光照相中的H-D曲线
作者姓名:
刘军
刘进
施将君
刘瑞根
管永红
肖智强
摘 要:
H-D曲线表明了照射量与底片光学密度之间的关系,是定量提取客体信息的基础。尽管实验上提出了许多测量“屏-片”的H—D曲线的方法,但这些方法所采用的实验布局与实际照相环境存在一定的差异。第一,许多实验采用的光源是单能源(如^60Co),没有体现底片系统对不同X射线能量的响应特性;第二,实验装置与实际照相模型存在比较大的差异,由于光子能谱和角分布以及散射的影响,测量的H-D曲线往往很难用到实际照相中;第三,也是更重要的一点是目前测量高能X射线照射量的仪器的测量误差较大,
关 键 词:
模拟测量
闪光照相
曲线表
X射线照射量
数值
实验装置
光学密度
定量提取
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