基于NI Vision的保偏光纤几何参数测量技术研究

近年来随着高精度光纤陀螺小型化的发展，细径保偏光纤的研制生产技术不断成熟，在研制和应用过程中急需对保偏光纤的几何参数进行准确测量。基于环形LED光源斜射照明的暗场成像技术，结合NI Vision视觉工具包提供的图像粒子分析处理算法，实现了保偏光纤各项几何参数的实时快速测量，且实验测量结果的重复性较好，能够很好地满足细径保偏光纤在研制生产和应用中的测量需求。