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集成光芯片的电光性能测试方法
引用本文:李佳程,刘会文,康伟.集成光芯片的电光性能测试方法[J].中国惯性技术学报,2007,15(3):359-362.
作者姓名:李佳程  刘会文  康伟
作者单位:上海航天技术研究院803所,光纤中心,上海,200233
基金项目:国家高技术研究发展计划(863计划)
摘    要:为了提高中低精度光纤陀螺工程化批产过程中的一致性和合格率,降低筛选成本,初步定量研究了铌酸锂集成光芯片的附加损耗、光克尔效应、分光比和偏振效应等重要参数对陀螺性能的影响和优化方法,并提出了电光性能的具体测试方法。通过输入特定方波、锯齿波、方波加阶梯波,可从输出波形上进行直观的判断,并可进一步给出性能优劣的量化指标,能够较为准确地进行芯片筛选,提高工艺水平。此项研究成果对铌酸锂集成光芯片的相关标准进行了补充,不仅可以帮助光纤陀螺的制作单位进行更合理可行的器件筛选,还可以帮助芯片的生产单位完善相应的参数测试工作,提高合格率。

关 键 词:惯性技术  光纤陀螺  集成光芯片  电光性能
文章编号:1005-6734(2007)03-0359-04
修稿时间:2007-04-262007-05-06

Electric-optic performance measurement for integrated optic chip
LI Jia-cheng,LIU Hui-wen,KANG Wei.Electric-optic performance measurement for integrated optic chip[J].Journal of Chinese Inertial Technology,2007,15(3):359-362.
Authors:LI Jia-cheng  LIU Hui-wen  KANG Wei
Institution:No.803 Research Institute, Shanghai Academy of Spaceflight Technology, Shanghai 200233, China
Abstract:
Keywords:inertial technique  fiber optic gyro  integrated optic component  electric-optic performance
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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