首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      


An evolved gas analysis study of the reduction of nickel oxide by hydrogen
Authors:P K Gallagher  E M Gyorgy  W R Jones
Institution:(1) Bell Laboratories, 07974 Murray Hill, New Jersey, USA
Abstract:The reduction of NiO by H2 was followed by conventional thermogravimetry and a new evolved gas analysis approach which follows the course of the reaction by measuring the H2O content of the gas stream. Excellent correspondence is observed between the two techniques for simultaneous measurements. Heating rates between 0.5 and 10° min–1 shift the temperature of the reaction as does changing the surface area of the NiO. These shifts are discussed in terms of the Neel temperature (T N) of NiO and the thermal history of the sample. No correlation between reaction rate andT N is observed under dynamic conditions. Preheating the sample in vacuum at 130° has a marked effect on shape of the DTG and EGA curves.
Zusammenfassung Die Reduktion von NiO durch H2 wurde durch konventionelle Thermogravimetrie und eine neue Analyse des entwickelten Gases untersucht, welche den Reaktions-ablauf durch Messung des H2O-Gehalts des Gasstromes verfolgt. Eine ausgezeichnete Übereinstimmung beider Techniken wird bei simultanen Messungen beobachtet. Aufheizgeschwindig keiten zwischen 0.5 und 10° min–1 verschieben die Temperatur der Reaktion und verändern die Oberfläche des NiO. Diese Verschiebungen werden auf Grund der Neel-Temperatur (T N) des NiO und der thermischen Vergangenheit der Probe erörtert. Unter dynamischen Bedingungen wird keine Korrelation zwischen der Reaktionsgeschwindigkeit undT N beobachtet. Das Vorwärmen der Probe im Vakuum bei 130° zeigt einen deutlichen Einfluß auf die Form der DTG und EGA Kurven.

Rcyiecyzcyyucymcyiecy Icyscyscylcyiecydcyocyvcyacyncyicyiecy rcyiecyacykcytscyicy icy vcyocyscyscytcyacyncyocyvcylcyiecyncyicyyacy ocykcyicy scyicy ncyicykcyiecylcyyacy vcyocydcyocyrcyocydcyocymcy scy pcyocy mcyocyshchcysoftcyyucy mcyiecytcyocydcyocyvcy tcyiecyrcymcyocygcyrcyacyvcyicymcy iecytcyrcyicyicy (DcyTcyGcy) icy acyncyacylcyicyzcyacy vcyycydcyiecylcyyacyyucyshchcyiecygcyocyscyyacy gcyacyzcyacy (Acy VcyGcy), pcyocyzcyvcyocylcyicylcyocy pcyrcyocyscylcyiecydcy icytcysoftcy khcyocydcy rcyiecyacykcytscyicyicy pcyucytcyiecymcy icyzcymcy iecyrcyiecyncyicyyacy scyocydcyiecyrcyzhcyacyncyicyyacy H2O vcy gcyacyzcyocyvcyocymcy pcyocytcyocykcyiecy. KHcyocyrcyocyshcyiecyiecy scyocyvcypcyacy dcyiecyncyicyiecy ncyacybcylcyyucydcyacyiecytcyscyyacy mcyiecyzhcydcyucy ecytcy icymcyicy dcyvcyucymcyyacy scyocyvcymcyiecyshchcyiecyncyncyycy mcyicy mcyiecytcyocydcyacymcyicy. Icyscypcyocylcysoftcyzcyucyiecymcyycyiecy scykcyocyrcyocyscy tcyicy ncyacygcyrcyiecyvcyacy mcyiecyzhcydcyucy 0.5 icy 10° vcy mcyicy ncyucytcyucy scydcyvcyicygcyacyyucytcy tcyiecymcypcyiecyrcy acytcyucyrcyucy rcyiecyacykcytscyicyicy, pcyocyscykcyocylcysoftcykcyucy pcyrcy ocyicyscykhcyocydcyicytcy icyzcymcyiecyncyiecyncyicyiecy pcylcyocyshchcyacydcyicy pcyocy vcyiecyrcykhcyncyocyscytcyicy ocykcyicyscyicy ncyicykcyiecy lcyyacy. Ucyscytcyacyncyocyvcylcyiecyncyncyycyiecy scydcyvcyicygcy icy ocybcyscyucyzhcydcyiecyncyycy ncyacy ocyscyncyocyvcyiecy tcyiecymcypcyiecyrcyacytcyucyrcy ycy Ncyiecyiecylcyyacy (T N) icy tcyiecyrcymcyicychcyiecyscykcy ocygcyocy pcyrcyocyicyscykhcyocyzhcydcyiecyncyicyyacy ocybcyrcyacyzcy tscyacy. Vcy dcyicyncyacymcyicychcyiecyscykcyicykhcy ucyscylcyocyvcyicyyacykhcy ncyiecy ucyscytcyacyncyocyvcylcy iecyncyocy kcyocyrcyrcyiecylcyyacytscyicyicy mcyiecyzhcydcyucy scykcyocyrcyocyscytcysoftcyyucy ncyacygcyrcyiecyvcyacy icyT N. Pcyrcyiecydcyvcyacyrcyicytcy iecylcysoftcyncyycyjcy ncyacygcyrcyiecyvcy ocykcyicyscyicy ncyicykcyiecylcyyacy vcy vcyacykcyucyucymcyiecy pcyrcyicy 130° ocykcyacyzcyycyvcyacy iecytcy zcyacymcyiecytcyncyocyiecy vcylcyicyyacyncyicyiecy ncyacy fcy ocyrcymcyucy DcyTcyGcy- icy AcyVcyGcy-kcyrcyicyvcyycykhcy.


Presented at the 11th Annual NATAS Meeting, New Orleans, LA, Oct. 19–21, 1981.

The authors are grateful to Mr. F. Schrey for measurements of the surface area.
Keywords:
本文献已被 SpringerLink 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号