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不同组分InxGa1-xAs(0≤x≤0.3)覆盖层对自组织InAs量子点的影响
作者姓名:王晓东  刘会赟  牛智川  封松林
作者单位:(1)中国科学院半导体研究所,半导体超晶格国家重点实验室,北京 100083; (2)中国科学院半导体研究所半导体材料科学实验室,北京 100083
基金项目:国家攀登计划(批准号:19823001)和国家自然科学基金(批准号:69776016)资助的课题.
摘    要:研究了不同In组分的InxGa1-xAs(0≤x≤0.3)覆盖层对自组织InAs量子点的结构及发光特性的影响.透射电子显微镜和原子力显微镜表明,InAs量子点在InGaAs做盖层时所受应力较GaAs盖层时有所减小,并且x=0.3时,InGaAs在InAs量子点上继续成岛.随x值的增大,量子点的光荧光峰红移,但随温度的变化发光峰峰位变化不明显.理论分析表明InAs量子点所受应力及其均匀性的变化分别是导致上述现象的主要原因.关键词:量子点盖层应力红移

关 键 词:量子点  盖层  应力  红移
收稿时间:2000-01-07
修稿时间:2000-01-07
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