| 半导体氧化锡粉末直流电阻的测定 |
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| 引用本文： | 徐丽金. 半导体氧化锡粉末直流电阻的测定[J]. 应用化学, 1994, 11(6): 45-48 |
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| 作者姓名： | 徐丽金 |
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| 作者单位： | 南昌大学化工系 |
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| 摘 要： | 粒径为０．０２～１０μｍ的半导体氧化锡粉末在真空中充分脱气和施加高于４０ＭＰａ压力可获得重现性较好的直流电阻。无锑掺杂氧化锡粉末的直流电阻随试样冷却吸附的温度而异，讨论了多晶氧化锡粉末的结构对电阻测定的影响。
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| 关 键 词： | 氧化锡粉末，直流电阻，测定 |
| 收稿时间： | 1994-02-07 |
DC Resistance Determination on Semiconducting Tin Oxide Powder |
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| Xu Lijin. DC Resistance Determination on Semiconducting Tin Oxide Powder[J]. Chinese Journal of Applied Chemistry, 1994, 11(6): 45-48 |
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| Authors: | Xu Lijin |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | tin oxide powder d c. resistance determination |
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