| 非恒定环境光条件下的相位测量剖面术 |
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| 引用本文： | 李万松,苏显渝,苏礼坤,向立群.非恒定环境光条件下的相位测量剖面术[J].光学学报,2000,20(5):17-623. |
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| 作者姓名： | 李万松 苏显渝 苏礼坤 向立群 |
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| 作者单位： | 四川大学光电科学技术系,成都,610064 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助课题 |
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| 摘 要： | 在野外运用相位测量剖面术（ＰＭＰ）测量物体三面型时，环境光场经常发生变化，从而严重影响测量精度，分析了环境光场发生变化对相位测量剖面术的影响，并提出了一种对ＣＣＤ摄像机获取的条纹图像进行灰度校正的方法。经过校正处理，环境光的影响被大幅度抑制，提高了测量精度。
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| 关 键 词： | 相位测量剖面术 环境光 灰度校正 |
| 收稿时间： | 1998/8/6 |
Phase-Measuring Profilometry in Non-Constant Environmental Light |
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| Li Wansong,Su Xianyu,Su Likun,Xiang Liqun.Phase-Measuring Profilometry in Non-Constant Environmental Light[J].Acta Optica Sinica,2000,20(5):17-623. |
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| Authors: | Li Wansong Su Xianyu Su Likun Xiang Liqun |
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| Abstract: | The accuracy of phase- measuring profilometry( PMP) is greatly influenced by the environmental light,especially in the outside of the room.The error caused by the change of the environmental lightis analyzed.A method to calibrate the grey scale of the fringe pattern acquired by the CCD camera is presented.By using the method,the error is greatly re- strained. |
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| Keywords: | phase- measuring profilometry environmental light grey scale calibrate |
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