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| 应用等色干涉测定薄膜厚度 | |
| 引用本文： | 李玉传,杨根娣.应用等色干涉测定薄膜厚度[J].物理实验,1990,10(4):151-153,147. |
| 作者姓名： | 李玉传 杨根娣 |
| 作者单位： | 武汉大学物理系，武汉大学物理系 |
| 摘 要： | 本文报导应用等色干涉原理测定单层镀膜层光学厚度的方法及测量结果分析。此方法无需破坏待测薄膜,测量简便、准确。 |
| 关 键 词： | 等色干涉 薄膜 厚度 测定 |
| 本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录！ | |
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