基于JTAG的MBIST设计实现

边界扫描（BSD，有时也称为JTAG）和存储器内建自测试（MBIST）是两种常用的集成电路可测试设计技术，然而如何有效处理MBIST产生的众多管脚是DFT工程师必须考虑的问题。本文介绍JTAG和MBIST基本原理和设计方法，在此基础上提出了用JTAG控制MBIST的实现方法，解决了由MBIST引起的管脚复用问题。