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| 弹道电子发射显微镜对Au/n-Si(100)界面势垒的探测 | |
| 引用本文： | 白春礼,郭仪.弹道电子发射显微镜对Au/n-Si(100)界面势垒的探测[J].物理学报,1995,44(1):133-136. |
| 作者姓名： | 白春礼 郭仪 |
| 作者单位： | 中国科学院化学研究所,北京100080 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金和中国科学院“八五”重大项目资助的课题 |
| 摘 要： | 用弹道电子发射显微镜对Au/n-Si(100)界面势垒测试,直接得出定点的势垒特性和纳米尺度的界面图象.通过所测的I-(c)-V曲线,可得所测点的肖特基势垒高度及电荷传输特性.界面图象可以显示界面极小范围内势垒的特性.
关键词： |
| 关 键 词： | BEEM 金属／半导体 界面 势垒 探测 金 硅 |
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